non-standard-2 3D輪廓測量儀 外置式 超長距離減薄厚度測量
| 參考價 | ￥ 1 |
| 訂貨量 | ≥1套 |
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 廣州萬智光學(xué)技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 non-standard-2
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/12/2 16:40:50
- 訪問次數(shù) 17
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 產(chǎn)品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,航天,汽車,電氣,綜合 |
在直徑高達(dá)12英寸的晶圓的未調(diào)節(jié)條件下以1nm的精度測量晶圓的平坦度。傳統(tǒng)的晶圓厚度映射技術(shù)難以保持準(zhǔn)確性，尤其是在遇到涉及溫度變化或振動的不穩(wěn)定環(huán)境時。TMS-2000的創(chuàng)新硬件設(shè)計有效減少了這些環(huán)境因素的影響。高速測量能力和緊湊的尺寸使其成為測量各種晶圓材料(包括硅(~P++)、sic、藍(lán)寶石、玻璃、LiNbO 3和SOI)平坦度的理想選擇。
特征
晶圓厚度測量系統(tǒng)，可測量1納米的平整度
精確測量對溫度變化和振動不敏感
亞納米厚度重復(fù)性
完整的晶圓映射，具有可定制的掃描模式
單面照明
晶圓到晶圓比較
適用于重?fù)诫s硅以及功率半導(dǎo)體和多層晶圓
符合SEMI標(biāo)準(zhǔn)的測量
相對于傳統(tǒng)解決方案的成本優(yōu)勢
采購中心
化工儀器網(wǎng)