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掩模對(duì)準(zhǔn)光刻機(jī)系統(tǒng)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):Dymek岱美儀器EVG620 NT
EVG620 NT以其多功能性和可靠性而著稱,在蕞小的占位面積上結(jié)合了優(yōu)良的對(duì)準(zhǔn)功能和蕞優(yōu)化的總體擁有成本,提供了優(yōu)于其他品牌的掩模對(duì)準(zhǔn)技術(shù)。它是光學(xué)雙面光刻的...
型號(hào): Dymek岱美儀器...
品牌:EVG所在地:上海市
對(duì)比
納米壓印EVG620光刻系統(tǒng)
2024/11/9 15:06:011408
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FPD Photomask缺陷檢查裝置
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):LODAS™ – LI系列
LODAS™ – LI系列是列真株式會(huì)社推出的一款FPD Photomask缺陷檢查裝置。
型號(hào): LODAS&tra...
品牌:LAZIN所在地:上海市
對(duì)比
FPD Photomask缺陷檢查裝置
2024/11/9 15:02:361253
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GlassWafe缺陷檢查裝置
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):LODAS™ – BI12
LODAS™ – BI12是列真株式會(huì)社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。
型號(hào): LODAS&tra...
品牌:LAZIN所在地:上海市
對(duì)比
GlassWafe缺陷檢查裝置
2024/11/9 15:00:061152
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Photomask Blanks缺陷檢查裝置
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):LODAS™ – BI8
LODAS™ – BI8是列真株式會(huì)社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。
型號(hào): LODAS&tra...
品牌:LAZIN所在地:上海市
對(duì)比
Photomask Blanks缺陷檢查裝置
2024/11/9 14:56:081331
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Photomask Blanks缺陷檢查裝置
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):LODAS™ – AI50/100
LODAS™ – AI50/100是列真株式會(huì)社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。
型號(hào): LODAS&tra...
品牌:LAZIN所在地:上海市
對(duì)比
Photomask Blanks缺陷檢查裝置
2024/11/9 14:54:301390
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FR-Ultra 晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):
FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備,專門用于快速、準(zhǔn)確和無(wú)損測(cè)量半導(dǎo)體材料的厚/超厚層及透明層。
型號(hào):
品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市
對(duì)比
薄膜厚度測(cè)量?jī)x
2024/11/9 14:52:431318
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自動(dòng)化高速薄膜厚度測(cè)量?jī)x
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
顯示器薄膜測(cè)量?jī)x*的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件:分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時(shí))、高精度反射探頭。因此,在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
型號(hào): FR-Scanne...
品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市
對(duì)比
顯示器薄膜測(cè)量自動(dòng)高速薄膜厚度測(cè)量薄膜厚度測(cè)量?jī)x
2024/11/9 14:43:501718
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光學(xué)粗糙度測(cè)試儀
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WM 300
光學(xué)粗糙度測(cè)試儀WaferMaster WM 300 不像傳統(tǒng)輪廓儀需要長(zhǎng)時(shí)間的垂直高度掃描加上水平拼接以得到3D的表面輪廓進(jìn)行耗時(shí)粗糙度計(jì)算。利用角分辨光散射...
WM 300光學(xué)粗糙度測(cè)試儀Optosurf
2024/11/9 14:35:192004
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晶圓幾何形貌測(cè)量及參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):PLS-F1000
晶圓幾何形貌測(cè)量及參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī)使用高精度高速光譜共焦雙探頭對(duì)射傳感器實(shí)現(xiàn)晶圓的非接觸式測(cè)量,結(jié)合高精度運(yùn)動(dòng)模組及晶圓機(jī)械手可實(shí)現(xiàn)晶圓形貌的亞微米級(jí)精度的測(cè)量,...
型號(hào): PLS-F1000
品牌:其他品牌所在地:上海市
對(duì)比
PLS-F1000形貌測(cè)量參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī)
2024/11/9 14:30:533366
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微波等離子清洗機(jī)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):P03Q-6LS Plasma
微波等離子清洗機(jī)專為微電子表面清潔與改性設(shè)計(jì),用于改善引線鍵合和芯片鍵合結(jié)合力,倒裝芯片填充不足等封裝制程,可用于處理各種電子材料,包括塑料、金屬或者玻璃等。
型號(hào): P03Q-6LS ...
品牌:其他品牌所在地:上海市
對(duì)比
微波等離子清洗微波等離子清洗機(jī)
2024/11/26 17:10:302937
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微流控缺陷檢測(cè)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):Nanotronics nSpec Macro
微流控缺陷檢測(cè) Nanotronics nSpec Macro可以照亮樣品的整個(gè)面,或設(shè)置照明角度和/或離散照明矢量。 明場(chǎng),暗場(chǎng),正交和可配置的傾斜照明角度與...
型號(hào): Nanotroni...
品牌:其他品牌所在地:上海市
對(duì)比
微流控缺陷檢測(cè)
2024/11/9 14:22:117989
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薄膜電阻測(cè)量?jī)x
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):Delcom 20J3 STAGE
薄膜電阻測(cè)試用戶可以直接在材料上繪制網(wǎng)格圖形,或者將材料放入一個(gè)塑料信封并在信封上繪制網(wǎng)格圖形。然后用戶根據(jù)這些網(wǎng)格線遞增材料。
型號(hào): Delcom 20...
品牌:DELCOM所在地:上海市
對(duì)比
薄膜電阻測(cè)試方塊電阻薄膜電阻測(cè)量
2024/11/26 17:30:202492
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晶圓缺陷檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):Nanotronics nSpec LS
Nanotronics nSpec LS晶圓缺陷檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)是研發(fā)和過(guò)程開(kāi)發(fā)的理想系統(tǒng)。它按順序運(yùn)行多個(gè)掃描。友好的用戶界面軟件使配置配方變得毫不費(fèi)力。而且,隨...
型號(hào): Nanotroni...
品牌:其他品牌所在地:上海市
對(duì)比
晶圓缺陷檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)晶圓缺陷檢測(cè)
2024/11/9 14:14:143538
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電鏡隔振臺(tái)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):Herz
Herz電鏡隔振臺(tái)的性能非??煽浚∵h(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)了 電鏡安裝所要求的振動(dòng)值,使電鏡能夠獲取十分清晰的高質(zhì)量圖片!
電鏡隔振臺(tái)防震臺(tái)Herz防震臺(tái)防振臺(tái)
2024/11/9 14:12:074263
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硅片厚度測(cè)量
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):Filmetrics F3-sX
硅片厚度測(cè)量?jī)x采用的是近紅外光(NIR)來(lái)測(cè)量膜層厚度,因此可以測(cè)試一些肉眼看是不透明的膜層( 比如半導(dǎo)體膜層) 。
型號(hào): Filmetric...
品牌:其他品牌所在地:上海市
對(duì)比
硅片厚度測(cè)量Filmetrics F3-sX薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量?jī)x膜厚儀
2024/11/9 17:02:382830
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StrainScope Flex可調(diào)式實(shí)時(shí)應(yīng)力儀
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):
StrainScope Flex可調(diào)式實(shí)時(shí)應(yīng)力儀 產(chǎn)品具有測(cè)量速度快、精度高、重復(fù)性好等特點(diǎn),對(duì)大尺寸樣品可拼接測(cè)量。其應(yīng)力測(cè)量設(shè)備用戶包括肖特、卡爾-蔡司、J...
薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
2024/11/9 13:59:552443
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實(shí)時(shí)型StrainScope S3/S4 應(yīng)力儀
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):
實(shí)時(shí)型StrainScope S3/S4 應(yīng)力儀 產(chǎn)品具有測(cè)量速度快、精度高、重復(fù)性好等特點(diǎn),對(duì)大尺寸樣品可拼接測(cè)量。其應(yīng)力測(cè)量設(shè)備用戶包括肖特、卡爾-蔡司、J...
薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
2024/11/9 13:57:422472
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拼接型StrainMatic stepper應(yīng)力儀
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):
拼接型StrainMatic stepper應(yīng)力儀 產(chǎn)品具有測(cè)量速度快、精度高、重復(fù)性好等特點(diǎn),對(duì)大尺寸樣品可拼接測(cè)量。其應(yīng)力測(cè)量設(shè)備用戶廣,用戶包括肖特、卡爾...
薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
2024/11/9 13:56:052103
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高精度型StrainMatic M4薄膜應(yīng)力測(cè)試儀
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):
德國(guó)ilis公司成立于1998年,專業(yè)研發(fā)制造高精度應(yīng)力雙折射分析軟件與測(cè)量設(shè)備,薄膜應(yīng)力測(cè)試儀采用成像式光彈原理,直接測(cè)量光延遲,可以快速給出高分辨率的高精度...
薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
2024/11/26 17:12:045119
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Filmetrics F3-sX半導(dǎo)體薄膜測(cè)量?jī)x
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):
Filmetrics F3-sX半導(dǎo)體薄膜測(cè)量?jī)x可以測(cè)試眾多半導(dǎo)體及電解層的厚度,可測(cè)大厚度達(dá)3毫米。此類厚膜,相較于較薄膜層表面較粗糙且不均
膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)膜儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
2024/11/26 17:22:523566
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Filmetrics F32薄膜厚度測(cè)量?jī)x
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):
Filmetrics F32薄膜厚度測(cè)量?jī)x 使用F32可以簡(jiǎn)單快速地在線測(cè)量膜厚。從對(duì)膜的頂部和底部反射光譜進(jìn)行分析可得到實(shí)時(shí)厚度信息。
膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)膜儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
2024/11/9 13:50:162886
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Filmetrics F60高級(jí)光譜反射系統(tǒng)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):
Filmetrics F60薄膜厚度測(cè)量?jī)x 電動(dòng)R-Theta平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn),并在幾秒鐘內(nèi)提供厚度測(cè)量。 選擇數(shù)十種預(yù)定義的極坐標(biāo),矩形或線性地圖...
膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)膜儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
2024/11/9 13:48:262016
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Filmetrics F40薄膜厚度測(cè)量?jī)x
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):
Filmetrics F40薄膜厚度測(cè)量?jī)x 產(chǎn)品能以一個(gè)電動(dòng)R-Theta 平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)以每秒測(cè)繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測(cè)繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)45...
膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)膜儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
2024/11/9 13:46:332295
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Filmetrics F54薄膜厚度測(cè)量?jī)x
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):
Filmetrics F54薄膜厚度測(cè)量?jī)x能以一個(gè)電動(dòng)R-Theta 平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)以每秒測(cè)繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測(cè)繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450毫米
膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)膜儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
2024/11/26 17:19:073741