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自動(dòng)化高速薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：FR-Scanner
薄膜厚度測(cè)量的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件：分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時(shí))、高精度反射探頭。因此，在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
型號(hào)： FR-Scanne... 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比

顯示器薄膜測(cè)量自動(dòng)高速薄膜厚度測(cè)量薄膜厚度測(cè)量?jī)x

2024/11/9 14:08:239531
Thetametrisis膜厚測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：FR-pRo
Thetametrisis膜厚測(cè)量?jī)xFR-pRo是一個(gè)模塊化和可擴(kuò)展平臺(tái)的光學(xué)測(cè)量設(shè)備，用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。
型號(hào)： FR-pRo 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比

膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)膜儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x

2024/11/9 13:23:4912008
全自動(dòng)帶顯微鏡多點(diǎn)測(cè)量參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：FR-Mic
FR-Mic 多層膜厚度測(cè)試儀是一款快速、準(zhǔn)確測(cè)量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，可以將光斑縮小到幾個(gè)微米，進(jìn)而分析微小區(qū)域或者粗糙表面薄膜特征。
型號(hào)： FR-Mic 品牌：ThetaMetrisis所在地：東莞市 對(duì)比

多層膜厚度測(cè)試Thetametrisis膜厚儀FR-Mic um級(jí)薄膜表征全自動(dòng)顯微鏡多點(diǎn)測(cè)量

2024/11/9 14:10:075295
全自動(dòng)帶顯微鏡多點(diǎn)測(cè)量膜厚儀參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：FR-Mic
硬化涂層膜厚儀是一款快速、準(zhǔn)確測(cè)量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個(gè)微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。
型號(hào)： FR-Mic 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比

膜厚儀測(cè)膜儀薄膜厚度分析儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜測(cè)量?jī)x

2024/11/9 12:28:3410113
光學(xué)顯微鏡適配器參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：FR-uProbe-LC
FR-uProbe-LC: 可測(cè)量小至幾微米的光斑尺寸應(yīng)用，例如微圖案表面、高粗糙度表面的樣品等等只需單擊鼠標(biāo)即可在 Vis/NIR波長(zhǎng)范圍中測(cè)量微小區(qū)域薄膜厚...
型號(hào)： FR-uProbe... 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比

膜厚儀拓展工具測(cè)量

2024/11/9 16:27:20744
FR-Scanner-AIO-Mic-XY300 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：
FR-Scanner-AIO-Mic-XY300 是一款整合自動(dòng)薄膜厚度測(cè)繪系統(tǒng)，用于全自動(dòng)圖案化晶圓上的單層和多層涂層厚度測(cè)量。電動(dòng)X-Y載物臺(tái)提供適用尺寸 ...
型號(hào)：品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比

膜厚儀薄膜厚度測(cè)繪微米級(jí)

2024/11/9 16:23:41791
FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：
FR-Ultra 是一款專(zhuān)用于精確測(cè)量半導(dǎo)體以及介電材料超厚層的專(zhuān)用設(shè)備。藉由先進(jìn)的光學(xué)器件，F(xiàn)R-Ultra 可以測(cè)量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。
型號(hào)：品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比

晶圓厚度測(cè)量FR-Ultra半導(dǎo)體測(cè)量半導(dǎo)體材料

2024/11/9 15:45:58893
FR-Mic：全自動(dòng)帶顯微鏡多點(diǎn)測(cè)量膜厚儀參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：
硬化涂層膜厚儀是一款快速、準(zhǔn)確測(cè)量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個(gè)微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。
型號(hào)：品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比

膜厚儀測(cè)膜儀薄膜厚度分析儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜測(cè)量?jī)x

2024/11/9 15:28:14951
FR-pRo：Thetametrisis膜厚測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：
Thetametrisis膜厚測(cè)量?jī)xFR-pRo是一個(gè)模塊化和可擴(kuò)展平臺(tái)的光學(xué)測(cè)量設(shè)備，用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。
型號(hào)：品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比

膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)膜儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x

2024/11/9 15:26:251212
FR-Scanner：自動(dòng)化高速薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：
光學(xué)厚度測(cè)量?jī)x的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件：分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時(shí))、高精度反射探頭。因此，在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
型號(hào)：品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比

顯示器薄膜測(cè)量自動(dòng)高速薄膜厚度測(cè)量薄膜厚度測(cè)量?jī)x

2024/11/9 15:24:541025
FR-InLine-在線薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：
FR-InLine 是一款模塊化可擴(kuò)展的在線薄膜厚度測(cè)量?jī)x（膜厚儀），可進(jìn)行在線非接觸測(cè)量 3nm-1mm 厚度范圍內(nèi)的涂層。 FR-InLine 膜厚儀并可以...
型號(hào)：品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比

薄膜厚度測(cè)量?jī)x膜厚儀FR-InLine岱美儀器

2024/11/9 15:22:411111
-自動(dòng)化高速薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
顯示器薄膜測(cè)量?jī)x*的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件：分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時(shí))、高精度反射探頭。因此，在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
型號(hào)： FR-Scanne... 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比

顯示器薄膜測(cè)量自動(dòng)高速薄膜厚度測(cè)量薄膜厚度測(cè)量?jī)x

2024/11/9 15:21:02449
晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：FR-Ultra
FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備，專(zhuān)門(mén)用于快速、準(zhǔn)確和無(wú)損測(cè)量半導(dǎo)體材料的厚/超厚層及透明層。
型號(hào)： FR-Ultra 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比

薄膜厚度測(cè)量?jī)x

2024/11/9 15:19:31864
精簡(jiǎn)薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：FR-ES
FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚測(cè)量分析系統(tǒng)。
型號(hào)： FR-ES 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比

薄膜測(cè)厚儀

2024/11/9 15:17:03970
FR-Ultra 晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：
FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備，專(zhuān)門(mén)用于快速、準(zhǔn)確和無(wú)損測(cè)量半導(dǎo)體材料的厚/超厚層及透明層。
型號(hào)：品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比

薄膜厚度測(cè)量?jī)x

2024/11/9 14:52:431308
自動(dòng)化高速薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
顯示器薄膜測(cè)量?jī)x*的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件：分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時(shí))、高精度反射探頭。因此，在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
型號(hào)： FR-Scanne... 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比

顯示器薄膜測(cè)量自動(dòng)高速薄膜厚度測(cè)量薄膜厚度測(cè)量?jī)x

2024/11/9 14:43:501706
Thetametrisis自動(dòng)化光學(xué)膜厚儀參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：FR-Scanner
Thetametrisis自動(dòng)化光學(xué)膜厚儀 FR-Scanner自動(dòng)化超高速薄膜厚度測(cè)量?jī)x是一種緊湊的臺(tái)式工具，適用于自動(dòng)測(cè)繪晶圓片上的涂層厚度。FR-Scan...
型號(hào)： FR-Scanne... 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比

膜厚儀測(cè)厚儀薄膜測(cè)厚儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x

2024/11/9 13:21:362795

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