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UltraShape - 晶圓關(guān)鍵尺寸測量系統(tǒng) 參考價：面議

參考價：面議型號：
系統(tǒng)用于磨片、拋光等前道工藝流程中的晶圓尺寸及形貌檢測，包括TTV，Bow，Warp，TIR等參數(shù)，可覆蓋4寸-12寸任何材質(zhì)晶圓的關(guān)鍵尺寸檢測，精度達(dá)國際水平...
型號：品牌：其他品牌所在地：上海市 對比

測量關(guān)鍵尺寸前道TTV

2024/11/9 16:08:53874
UltraINSP - 晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng) 參考價：面議

參考價：面議型號：
UltraINSP晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng)是表面缺陷檢測的蕞完善的國產(chǎn)化替代產(chǎn)品，系統(tǒng)包括四個模塊可以檢測所有晶圓表面并同步采集數(shù)據(jù)：晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測模...
型號：品牌：其他品牌所在地：上海市 對比

晶圓檢測表面缺陷檢測缺陷檢測

2024/11/9 16:06:29940
MESA系列磁性測量系統(tǒng) 參考價：面議

參考價：面議型號：
SHB自1976年以來，Instruments一直在生產(chǎn)一系列行業(yè)主導(dǎo)的磁性測量系統(tǒng)。與其他競爭產(chǎn)品不同的是，臺面系列采用最新的全數(shù)字電路和信號處理技術(shù)進(jìn)行測量
型號：品牌：其他品牌所在地：上海市 對比

磁性測量MESASHB

2024/11/9 16:04:07905
WLA-5000 - 磁傳感器晶圓水平儀參考價：面議

參考價：面議型號：
分析磁性薄膜和傳感器的性能對磁性傳感器的設(shè)計和生產(chǎn)至關(guān)重要，ISI的WLA-5000磁性傳感器分析儀結(jié)合了ISI專有的測量電子設(shè)備、電源、探針卡、控制器和磁鐵，...
型號：品牌：其他品牌所在地：上海市 對比

水平儀磁傳感器

2024/11/9 16:01:51880
WLA-3000 晶圓水平儀參考價：面議

參考價：面議型號：
分析磁膜性能對磁傳感器的設(shè)計和生產(chǎn)至關(guān)重要，WLA-3000自動晶圓液位分析儀可以與各種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的自動晶圓探針集成，以表征成品器件或測試結(jié)果（包括橋接配置）的磁...
型號：品牌：其他品牌所在地：上海市 對比

晶圓水平儀磁傳感器測試

2024/11/9 16:00:00794
組裝和檢查紅外系統(tǒng) 定心儀（偏心儀）參考價：面議

參考價：面議型號：LAS系列
定心儀具有綠色（520nm）激光反射光模塊，533mm垂直直線聚焦運動，微步進(jìn)電機和高精度旋轉(zhuǎn)編碼器
型號： LAS系列品牌：其他品牌所在地：上海市 對比

組裝和檢查紅外系統(tǒng)

2024/11/9 15:54:151512
UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng) 參考價：面議

參考價：面議型號：
UltraINSP晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng)是表面缺陷檢測的蕞完善的國產(chǎn)化替代產(chǎn)品，系統(tǒng)包括四個模塊可以檢測所有晶圓表面并同步采集數(shù)據(jù)：晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測模...
型號：品牌：其他品牌所在地：上海市 對比

晶圓檢測表面缺陷檢測缺陷檢測

2024/11/9 15:52:291036
UltraFilm薄膜測量系統(tǒng) 參考價：面議

參考價：面議型號：
系統(tǒng)可以為各種材質(zhì)薄膜提供高精度的厚度均勻性測量。使用創(chuàng)新的融合光譜反射技術(shù)、近紅外干涉技術(shù)以及高亮度光源驅(qū)動的光譜橢偏儀技術(shù)的多傳感器融合測量技術(shù)，是國內(nèi)可以...
型號：品牌：其他品牌所在地：上海市 對比

薄膜測量同質(zhì)膜厚全自動檢測

2024/11/26 17:16:591357
FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測量系統(tǒng) 參考價：面議

參考價：面議型號：
FR-Ultra 是一款專用于精確測量半導(dǎo)體以及介電材料超厚層的專用設(shè)備。藉由先進(jìn)的光學(xué)器件，F(xiàn)R-Ultra 可以測量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。
型號：品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

晶圓厚度測量FR-Ultra半導(dǎo)體測量半導(dǎo)體材料

2024/11/9 15:45:58905
QuickOCT-4D--膜厚輪廓儀參考價：面議

參考價：面議型號：
QuickOCT-4D™ 將單點可見光光譜域光學(xué)相干斷層掃描（SD-OCT）傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運動控制平臺相結(jié)合，可以在高達(dá) ...
型號：品牌：其他品牌所在地：上海市 對比

光學(xué)相干斷層掃描OATI

2024/11/9 15:44:271546
QuickPRO-RPS--旋轉(zhuǎn)剖面儀參考價：面議

參考價：面議型號：
專為測量旋轉(zhuǎn)對稱樣品的表面形貌和透明薄膜的厚度而設(shè)計，如金剛石車削光學(xué)表面和模塑或拋光的非球面透鏡
型號：品牌：其他品牌所在地：上海市 對比

旋轉(zhuǎn)剖面儀OATI輪廓儀形貌儀

2024/11/9 15:42:53888
QuickPRO-3D--表面輪廓儀參考價：面議

參考價：面議型號：
適用于光學(xué)、工業(yè)和半導(dǎo)體市場的高速、中精度、經(jīng)濟實惠的表面輪廓儀，納米分辨率彩色共聚焦傳感器（可配制點和線傳感器），為在線過程測量和控制而設(shè)計，結(jié)構(gòu)緊湊，易于上...
型號：品牌：其他品牌所在地：上海市 對比

輪廓儀表面測量3D形貌儀白光干涉輪廓儀

2024/11/9 15:41:001210
QuickOCT-4D —膜厚輪廓儀參考價：面議

參考價：面議型號：
QuickOCT-4D™ 將單點可見光光譜域光學(xué)相干斷層掃描（SD-OCT）傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運動控制平臺相結(jié)合，可以在高達(dá) ...
型號：品牌：其他品牌所在地：上海市 對比

應(yīng)力測量光學(xué)相干斷層掃描OATI

2024/11/9 15:36:49836
iFocus晶圓檢測系統(tǒng) 參考價：面議

參考價：面議型號：
iFocus是一款用于晶圓外觀缺陷檢測設(shè)備，利用STI的2D/3D視覺檢測系統(tǒng)，采用雙2D Camera同時采集亮區(qū)和暗區(qū)照片分析特征缺陷；True 3D技術(shù)，...
型號：品牌：其他品牌所在地：上海市 對比

長川晶圓檢測iFocus晶圓缺陷檢測STI

2024/11/9 15:34:221385
自動化SmartNIL紫外納米壓印光刻系統(tǒng) 參考價：面議

參考價：面議型號：EVG720
長達(dá) 150 毫米的自動化全場紫外納米壓印解決方案，采用 EVG 專有的 SmartNIL 技術(shù)
型號： EVG720 品牌：EVG所在地：上海市 對比

EVG720納米壓印光刻

2024/11/9 15:30:181005
FR-Mic：全自動帶顯微鏡多點測量膜厚儀參考價：面議

參考價：面議型號：
硬化涂層膜厚儀是一款快速、準(zhǔn)確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。
型號：品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

膜厚儀測膜儀薄膜厚度分析儀薄膜厚度測量儀薄膜測量儀

2024/11/9 15:28:14959
FR-pRo：Thetametrisis膜厚測量儀參考價：面議

參考價：面議型號：
Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個模塊化和可擴展平臺的光學(xué)測量設(shè)備，用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。
型號：品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀

2024/11/9 15:26:251229
FR-Scanner：自動化高速薄膜厚度測量儀參考價：面議

參考價：面議型號：
光學(xué)厚度測量儀的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件：分光計、復(fù)合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
型號：品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

顯示器薄膜測量自動高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀

2024/11/9 15:24:541034
FR-InLine-在線薄膜厚度測量儀參考價：面議

參考價：面議型號：
FR-InLine 是一款模塊化可擴展的在線薄膜厚度測量儀（膜厚儀），可進(jìn)行在線非接觸測量 3nm-1mm 厚度范圍內(nèi)的涂層。 FR-InLine 膜厚儀并可以...
型號：品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

薄膜厚度測量儀膜厚儀FR-InLine岱美儀器

2024/11/9 15:22:411124
-自動化高速薄膜厚度測量儀參考價：面議

參考價：面議型號：FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
顯示器薄膜測量儀*的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件：分光計、復(fù)合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
型號： FR-Scanne... 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

顯示器薄膜測量自動高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀

2024/11/9 15:21:02459
晶圓厚度測量系統(tǒng) 參考價：面議

參考價：面議型號：FR-Ultra
FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備，專門用于快速、準(zhǔn)確和無損測量半導(dǎo)體材料的厚/超厚層及透明層。
型號： FR-Ultra 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

薄膜厚度測量儀

2024/11/9 15:19:31880
精簡薄膜厚度測量儀參考價：面議

參考價：面議型號：FR-ES
FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚測量分析系統(tǒng)。
型號： FR-ES 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

薄膜測厚儀

2024/11/9 15:17:03977
Dymek岱美儀器分步重復(fù)納米壓印光刻機參考價：面議

參考價：面議型號：EVG770 NT
我們的EVG770分步重復(fù)納米壓印光刻機是用于步進(jìn)式納米壓印光刻的通用平臺，可用于有效地進(jìn)行母版制作或?qū)迳系膹?fù)雜結(jié)構(gòu)進(jìn)行直接圖案化。這種方法允許從蕞大50 ...
型號： EVG770 NT 品牌：EVG所在地：上海市 對比

EVG770 NTEVG770納米壓印光刻機

2024/11/9 15:15:221282
自動化臨時鍵合系統(tǒng) 參考價：面議

參考價：面議型號：EVG850 TB
EVG850 TB-自動化臨時鍵合系統(tǒng) EVG鍵合機全自動的臨時鍵合系統(tǒng)（晶圓鍵合機）可在一個自動化工具中實現(xiàn)整個臨時鍵合過程-從臨時鍵合劑的施加，烘焙，將設(shè)...
型號： EVG850 TB 品牌：EVG所在地：上海市 對比

自動晶圓鍵合對準(zhǔn)機晶圓鍵合對準(zhǔn)機鍵合對準(zhǔn)機鍵合對準(zhǔn)機價格

2024/11/9 15:13:441267

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