表面光電壓是固體表面的光生伏*應(yīng)，是光致電子躍遷的結(jié)果。表面光電壓技術(shù)是一種研究半導(dǎo)體特征參數(shù)的ji jia途徑，這種方法是通過對材料光致表面電壓的改變進(jìn)行分析來獲得相關(guān)信息的。
       早在 1876 年 ,W. G. Adams就發(fā)現(xiàn)了這一現(xiàn)象,然而直到1948年才將這一效應(yīng)作為光譜檢測技術(shù)應(yīng)用于半導(dǎo)體材料的特征參數(shù)和表面特性研究上 ,這種光譜技術(shù)稱為技術(shù)(Sur face Photov oltaic Technique,簡稱SPV)或譜(Sur facePhotov oltage Spectroscopy ,簡稱SPS) 。
       技術(shù)是一種研究半導(dǎo)體特征參數(shù)的ji jia途徑 ,這種方法是通過對材料光致表面電壓的改變進(jìn)行分析來獲得相關(guān)信息的。1970 年 ,表面光伏研究獲得重大突破 ,美國麻省理工學(xué)院 G ates教授的研究小組在用低于禁帶寬度能量的光照射 CdS表面時(shí) ,歷史性的di yi次獲得入射光波長與的譜圖 ,以此來確定表面態(tài)的能級 ,從而形成了譜這一新的研究測試手段。

主要應(yīng)用：
       半導(dǎo)體材料的光生電壓性能的測試分析，可開展光催化等方面的機(jī)理研究，應(yīng)用于太陽能電池、光解水制氫等方面的研究，研究光生電荷的性質(zhì)，如：光生電荷擴(kuò)散方向；解析光生電荷屬性等。主要代表材料有TiO2、ZnO、CdS、GaAs、CdTe、CdSe等。

技術(shù)參數(shù)
1) 光電壓譜測量：zui小電壓>10nV；功能材料的光電性質(zhì)，可開展光催化等方面的機(jī)理研究;
2) 光電流譜測量：zui小電流>10 pA；研究功能材料光電流性質(zhì)，可應(yīng)用于太陽能電池、光解水制氫等方面的研究;
3) 光伏相位譜分析：相檢測范圍：-180°至+180°；可用于研究光生電荷的性質(zhì)，如：光生電荷擴(kuò)散方向；解析光生電荷屬性等;
4) 、光電流、相位譜分析的光譜波長范圍：200-1600nm，可以全光譜連續(xù)掃描，光譜分辨率0.1nm，波長準(zhǔn)確度±0.1nm;
5) 可以實(shí)現(xiàn)任意定波長下，不同強(qiáng)度光照下的、光電流、相位譜分析，實(shí)現(xiàn)光譜分析的多元化;
6) 光路設(shè)計(jì)一體化、所有光路均在暗室中或封閉光路中進(jìn)行，無外界雜光干擾;