TTT-02-Kerr Microscope 磁光克爾顯微鏡綜合測試設(shè)備
- 公司名稱 托托科技(蘇州)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 TTT-02-Kerr Microscope
- 產(chǎn)地 蘇州市工業(yè)園區(qū)新平街388號B棟
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2023/4/13 14:38:50
- 訪問次數(shù) 572
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 食品,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子 |
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型號 | TTT-02-Kerr Microscope | 測量相機 | 400百萬像素 |
動態(tài)范圍 | 不低于33000:1,不小于30幀/秒 | 高精度電動聚焦模塊 | 行程20 mm |
100X物鏡工作距離 | 12 mm | 磁場方向 | 垂直+水平 |
系統(tǒng)光源 | 高功率智能光源模塊 | 量子效率 | 82% |
顯微鏡主體 | 卡爾蔡司 | 超長焦無磁物鏡,倍率 | (NA 0.13,WD 44.5 mm), 20X(NA 0.29,WD 31),100X (NA |
分辨率 | 1 μm | 探針臺 | 探針XYZ位移臺4套,XYZ行程:12.5 mm |
探針臺2 | DC探針組件8套 |
磁光克爾顯微鏡綜合測試設(shè)備,顯微磁疇空間分辨率優(yōu)于0.5微米,磁光克爾角分辨率優(yōu)于0.1毫度,支持極向克爾、縱向克爾、橫向克爾三種磁光克爾效應(yīng)測量方式。在追蹤平面內(nèi)數(shù)百萬點的磁疇動態(tài)信息的同時,可搭配探針臺實現(xiàn)電學(xué)、磁學(xué)、光學(xué)同步觀測。廣泛應(yīng)用于磁學(xué)和自旋電子學(xué)領(lǐng)域中磁光克爾效應(yīng),磁滯回線,磁疇翻轉(zhuǎn)或擴展動態(tài)等觀測。
磁光克爾顯微鏡綜合測試設(shè)備相較于傳統(tǒng)的單點磁滯回線測量儀,磁光克爾顯微鏡綜合測試設(shè)備,可以追蹤平面內(nèi)數(shù)百萬點的實時磁性動態(tài)信息。結(jié)合該測試平臺提供的直流探針,高頻探針,樣品的測試無比便捷。當下自旋電子學(xué)或磁學(xué)的研究,已經(jīng)由磁性驅(qū)動的翻轉(zhuǎn),發(fā)展到了直流電流驅(qū)動、脈沖電流驅(qū)動、微波脈沖驅(qū)動、光驅(qū)動等一系列的激勵源作用下的深度研究。
托托科技(蘇州)有限公司提供的磁光克爾顯微鏡綜合測試設(shè)備標準系統(tǒng)按照性能優(yōu)先,穩(wěn)定性優(yōu)先的設(shè)計思路,可以滿足實驗室研究及工業(yè)生中各種相關(guān)材料的測試需求。標準設(shè)備中提供了磁場激勵、電流激勵等多種選項,是客戶在自旋特性研究中的得力測試平臺。
更多的選項可以根據(jù)客戶需求選擇升級。