金相顯微鏡

什么是測量方法?測量方法有哪些?測量顯微鏡常識

    所謂測量方法，是指測量過程中所用的量具或計量儀器和

測量條件的總和，包括比較的方式(測量原理)等。具休包括以下

幾點:①具有一定精度指標的量具和計zui儀器;②被測零件的特

性及其參數特點;⑧標準件;④測員基面及其定位形式;⑤瞄準

形式;⑥測量力和接觸形式;⑦測量的客觀條件(溫度、濕度等)。

測量顯微鏡測量方法有以下幾種:

    (1)直接測量和間接測量

    從獲得測員結果的方式不同，測量可分為直接測zui和間接

測量兩類。所謂直接測量就是測量結果可以直接地由量具或

址儀的讀數裝置上讀得被測的量的大小，例如用千分尺測量一

個外圓柱直徑、用游標卡尺測zui一段長度等，所謂間接測量，

就是測量的結果不是直接獲得的，而是由測量與其有一定關系

的量，通過計算得到被測的量的大小。例如用正弦規(guī)測zui錐體

的錐角，用圓柱(圓球)法測景大圓弧半徑，用弓高弦長法測

量一段非整圓的圓弧半徑等，測量后，要經過計算才能得到被

測的量的大小。

    (2)測量和相對測量:

    從比較方式的不同，測量可分為測量和相對測量兩類。

    所謂測量，是指被測的址和測量單位的標準量直接比

較后，就可得到其值。例如用百分尺測量直徑、用游標卡

尺測量長度，既是直接測量，又是測量，

    所謂相對測量，是指被測的量要與標準件進行比較之后，’

根據偏差值才能確定被測的量的大小。例如用指示千分尺測量

軸徑、用測微儀和量塊測量圓柱直徑等。

    相對測量方法的出現(xiàn)，是測量技術的一個進步，它使測量

儀器的結構大為簡化，便于采用各種原理進行放大，獲得更高

的梢度，同時由于與標準件比較，所以對測量條件的要求可以

適當放寬些。

    (3)接觸測量和非接觸測量:

    從接觸形式的不同，測量可分為接觸測量和非接觸測量兩

種。

    所謂接觸測量，是指測量時，量具或量儀的測頭直接與被

測零件表面接觸。例如用深度尺測量梢深等。

    所謂非接觸測量，是指測量時，測量顯微鏡或量儀與被測零

件無直接機械接觸，而是通過其他介質(如光、氣流等)與零件接

觸。例如在投影儀上將放大了的零件輪廓與標準的放大圖進行

比較;用氣動量儀測量孔徑等。

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