在選購手持式XRF分析儀時(shí),決定采用硅漂移探測器(SDD)還是PIN探測器是您需要做出的關(guān)鍵決策之一。例如,我們性價(jià)比高的Vanta Element XRF系列中的兩款分析儀配備了不同的探測器:Vanta Element分析儀搭載了PIN探測器,而Vanta Element-S分析儀則配備了SDD探測器。
一、SDD與PIN:它們有何不同?
硅漂移探測器(SDD)是一種較先進(jìn)的技術(shù),其每秒的X射線計(jì)數(shù)率大約是PIN探測器的10倍。SDD探測器的分辨率也比PIN探測器高出約40 eV。然而,SDD性能的提升也意味著成本的增加。在選擇哪種探測器更適合您的需求時(shí),您需要考慮計(jì)劃如何使用XRF分析儀。
二、檢測輕元素需求
輕元素的定量分析只能由裝配有SDD探測器的分析儀實(shí)現(xiàn)。許多人因此誤以為不能使用裝配PIN探測器的分析儀來分揀鋁合金。然而,配備PIN探測器的分析儀能夠基于較重元素(如:銅、鉻或鐵)的含量來分揀多種鋁合金牌號(hào)。當(dāng)然,要進(jìn)行更精細(xì)的區(qū)分,例如區(qū)分鎂含量不同的6061鋁和6063鋁,則需要使用裝配有SDD探測器的分析儀。
三、檢測限(LOD)需求
SDD探測器的檢測限通常比PIN探測器低約3倍。SDD探測器還具有更高的計(jì)數(shù)率,因此提供更高的精確度和靈敏度。
四、如何選購合適的分析儀
我們希望上述問題已經(jīng)幫助您確定了所需探測器的類型,這將使您更接近于選購一款合適的分析儀。如果您需要SDD探測器,那么您可能需要深入了解我們的Vanta Element-S手持式XRF分析儀,這款經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的分析儀能夠檢測輕元素,并對合金進(jìn)行精確辨別。
這款分析儀能夠在數(shù)秒內(nèi)快速、精確地識(shí)別鎂(Mg)、鋁(Al)和硅(Si)元素。分析儀的SDD探測器還能區(qū)分相似的合金牌號(hào),如:303和304不銹鋼,6061和1100鋁,以及6063和1100鋁。這款分析儀能夠有效測量黑色金屬、鋁、銅、不銹鋼、鎳和金的含量,是完成廢料回收、基礎(chǔ)PMI(材料成分識(shí)別)、金屬制造和貴金屬鑒定等任務(wù)的理想選擇。
如果您需要PIN探測器,那么請您仔細(xì)研究我們的Vanta Element初級(jí)分析儀,這款經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的分析儀同樣能夠?qū)辖疬M(jìn)行辨別。
無論您選擇哪款分析儀,都可以放心使用,因?yàn)閮煽罘治鰞x都具備使Vanta系列分析儀的基本特性:快速檢測、可靠結(jié)果、堅(jiān)固耐用、良好的連通性,以及操作便捷性堪比智能手機(jī)。
兩款分析儀都具備以下優(yōu)勢特性:
符合IP54評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn),具備防塵、防潮功能。
通過了MIL-STD-810G墜落測試,可防止分析儀在墜落時(shí)受損,從而減少昂貴的維修需求。
Axon技術(shù)有助于迅速且可靠地完成檢測。
借助奧林巴斯科學(xué)云系統(tǒng),可以實(shí)現(xiàn)云連接和現(xiàn)代化的數(shù)據(jù)共享。
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