推拉力測(cè)試機(jī)使用教程:從入門到精通,操作細(xì)節(jié)全解析
近期,小編接到了不少來自半導(dǎo)體行業(yè)的朋友們的咨詢,他們對(duì)于推拉力測(cè)試機(jī)的使用方法、作業(yè)指導(dǎo)書以及具體的操作步驟表現(xiàn)出了濃厚的興趣。為了滿足這些需求,本文將詳細(xì)介紹推拉力測(cè)試機(jī)的使用指南。
在現(xiàn)代半導(dǎo)體封裝行業(yè)中,隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步和產(chǎn)品性能要求的日益提高,對(duì)電子組件的可靠性測(cè)試也提出了更高的標(biāo)準(zhǔn)。電子組件在焊接、運(yùn)輸和使用過程中,可能會(huì)遭受氧化腐蝕、振動(dòng)、沖擊、應(yīng)力彎曲變形等不利因素的影響,這些因素可能導(dǎo)致焊點(diǎn)或器件的失效,進(jìn)而影響整個(gè)產(chǎn)品或系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。因此,對(duì)半導(dǎo)體芯片封裝進(jìn)行推拉力驗(yàn)證和失效分析成為了確保產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵步驟。
本文科準(zhǔn)測(cè)控小編將詳細(xì)介紹推拉力測(cè)試機(jī)的使用方法和操作圖解,包括設(shè)備的檢查、模塊裝配、推刀(或鉤針)的裝配與校準(zhǔn)、夾具定位與固定、測(cè)試參數(shù)的設(shè)定、測(cè)試執(zhí)行以及結(jié)果的觀察與分析等關(guān)鍵步驟。通過對(duì)這些操作步驟的深入了解,用戶將能夠更加熟練地運(yùn)用推拉力測(cè)試機(jī),為半導(dǎo)體封裝產(chǎn)品的可靠性驗(yàn)證提供強(qiáng)有力的技術(shù)支持。
一、什么要用推拉力測(cè)試機(jī)進(jìn)行測(cè)試?
1、推拉力測(cè)試機(jī)作為一種專業(yè)的測(cè)試設(shè)備,它能夠?qū)︽I合點(diǎn)進(jìn)行精確的測(cè)試驗(yàn)證,評(píng)估封裝產(chǎn)品是否達(dá)到了設(shè)計(jì)和使用要求,從而提高產(chǎn)品的可靠性。
2、通過模擬實(shí)際使用中的各種應(yīng)力條件,推拉力測(cè)試機(jī)能夠預(yù)測(cè)和識(shí)別潛在的失效模式,為產(chǎn)品的持續(xù)改進(jìn)和優(yōu)化提供科學(xué)依據(jù)。
3、具有功能強(qiáng)大、?配置靈活、可靠性高的優(yōu)點(diǎn),專注于剪切力和拉拔力檢驗(yàn)檢測(cè),?被廣泛應(yīng)用于光通信、貼片電子制造、?材料科學(xué)、?機(jī)械工程、半導(dǎo)體封裝等領(lǐng)域。
二、工作原理
通過施加一定的推力或拉力于測(cè)試樣品,并測(cè)量該力對(duì)樣品造成的位移、形變或破壞,從而確定該樣品的強(qiáng)度和耐久性。通過對(duì)這些數(shù)據(jù)的分析,可以得出材料的推拉強(qiáng)度、韌性、彈性等重要的力學(xué)參數(shù)?。
三、常用測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
芯片剪切力(DIE SHEAR) | MIL STO 883 |
金球剪切力(AU BALL SHEAR) | JEDEC JESD22-B116 |
拉線(WIRE PULL) | DT/NDT MIL STD 883 |
平拔拉力(STUD PULL) | MIL STD 883 |
倒裝芯片拉力(FLIPCHIPPULL) | JEDEC JESD22-B109 |
冷/熱焊凸塊拉力(CBP/HBP) | JEITA EIAJ ET-7407 |
BGA銅柱剪切力(BGA BUMP SHEAR) | JEDEC JESD22-8117A |
冷拔球 | JESD22-B115 |
四、應(yīng)用領(lǐng)域
推拉力測(cè)試機(jī)能夠適應(yīng)多種封裝形式,如QFN、BGA、CSP和TSOP等,滿足不同封裝件的測(cè)試需求。該設(shè)備支持多種測(cè)試模式,包括靜態(tài)和動(dòng)態(tài)的拉力測(cè)試以及推力測(cè)試,以適應(yīng)不同的測(cè)試場(chǎng)景。除此之外,推拉力測(cè)試機(jī)的應(yīng)用范圍不僅限于半導(dǎo)體封裝,還擴(kuò)展到了LED封裝、光電子器件封裝、PCBA電子組裝、汽車電子和航空航天等多個(gè)行業(yè)。
五、產(chǎn)品特點(diǎn)
1、高精度
采用先進(jìn)的傳感技術(shù),確保了在進(jìn)行拉伸、推力或彎曲測(cè)試時(shí)的高度精確性。全量程采用自主研發(fā)高精度 (24Bit 超高分辨率 ) 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),測(cè)試數(shù)據(jù)更加精準(zhǔn);
2、多功能
六、使用方法
步驟1、設(shè)備與配件檢查
檢查半導(dǎo)體推拉力測(cè)試機(jī)及其所有配件,確保設(shè)備完整且功能正常。
確認(rèn)測(cè)試機(jī)、推刀(或鉤針)和夾具等關(guān)鍵部件均已完成校準(zhǔn),以確保測(cè)試結(jié)果的精確性。
步驟2、模塊安裝與電源連接
將待測(cè)試的模塊正確安裝到推拉力測(cè)試機(jī)上。
連接電源,并啟動(dòng)測(cè)試機(jī),等待系統(tǒng)自檢和模塊初始化完成。
檢查所有指示燈和顯示屏是否正常工作,確保系統(tǒng)準(zhǔn)備就緒。
步驟3、推刀(或鉤針)的安裝與校準(zhǔn)
根據(jù)測(cè)試的具體需求,選擇適合的推刀。
將推刀安裝到推拉力測(cè)試機(jī)的旨定位置,并進(jìn)行牢固鎖定,以保證測(cè)試的精確度。
步驟4:測(cè)試夾具固定
將電子元器件精確地放置在測(cè)試夾具中,并確保其位置正確。
將夾具安裝到測(cè)試機(jī)的工作臺(tái)上,并使用固定螺絲將其緊固,模擬實(shí)際使用中的固定狀態(tài)。
步驟5、測(cè)試參數(shù)的設(shè)定
在測(cè)試機(jī)的軟件界面上輸入必要的測(cè)試參數(shù),包括但不限于測(cè)試方法、傳感器選擇、測(cè)試速度、目標(biāo)力值、剪切高度和測(cè)試次數(shù)。
完成參數(shù)設(shè)置后,保存并應(yīng)用這些參數(shù),確保測(cè)試能夠按照預(yù)定條件執(zhí)行。
步驟6、測(cè)試執(zhí)行
在顯微鏡下確認(rèn)電子元器件和推刀(或鉤針)的相對(duì)位置正確無誤。
啟動(dòng)測(cè)試程序,密切監(jiān)視測(cè)試過程中的動(dòng)作,確保一切按照設(shè)定的參數(shù)進(jìn)行。
如遇任何異常情況,立即停止測(cè)試以避免進(jìn)一步的損壞。
步驟7、結(jié)果觀察與分析
測(cè)試完成后,對(duì)電子元器件的破壞情況進(jìn)行觀察,并進(jìn)行失效分析。
根據(jù)測(cè)試結(jié)果,對(duì)測(cè)試參數(shù)進(jìn)行必要的調(diào)整,并重新執(zhí)行測(cè)試以驗(yàn)證改進(jìn)措施的效果。
以上就是小編介紹的有關(guān)于推拉力測(cè)試機(jī)使用方法的相關(guān)內(nèi)容了,希望可以給大家?guī)韼椭∪绻€想了解更多關(guān)于推拉力測(cè)試機(jī)怎么使用視頻和圖解,使用步驟及注意事項(xiàng)、作業(yè)指導(dǎo)書,推拉力測(cè)試儀操作規(guī)范,焊接強(qiáng)度測(cè)試儀使用方法和鍵合拉力測(cè)試儀等問題,歡迎您關(guān)注我們,也可以給我們私信和留言,【科準(zhǔn)測(cè)控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測(cè)試機(jī)在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導(dǎo)體、BGA元件焊點(diǎn)、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領(lǐng)域應(yīng)用中可能遇到的問題及解決方案。
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