一、什么是IR?
紅外光譜儀(Infrared spectrometer,IR)是利用被測(cè)物質(zhì)對(duì)不同波長(zhǎng)的紅外輻射具有選擇性吸收的特性,實(shí)現(xiàn)對(duì)分子結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成進(jìn)行測(cè)試的儀器。當(dāng)樣品受到紅外光照射時(shí),樣品中的分子吸收某些特定的波長(zhǎng),并引起分子偶極矩的變化,能級(jí)從基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài),由此形成的分子吸收光譜稱為紅外光譜,又稱為分子振動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)光譜。常見的分子的幾種振動(dòng)模式如圖1所示。
圖1 常見的分子的幾種振動(dòng)模式:(a) 對(duì)稱伸縮振動(dòng)、(b) 反對(duì)稱伸縮振動(dòng)和(c) 搖擺振動(dòng)
紅外光譜一般分為:近紅外、中紅外和遠(yuǎn)紅外。這三個(gè)區(qū)間的紅外光譜所用的儀器及其內(nèi)部配置是不相同的,所獲得的信息也不相同,如表1所示,為不同紅外區(qū)域?qū)?yīng)的波長(zhǎng)和波數(shù),例如:氣體分子的轉(zhuǎn)動(dòng)光譜主要出現(xiàn)在遠(yuǎn)紅外區(qū),而氧化物的光譜主要出現(xiàn)在中紅外的低頻區(qū)。目前,絕大多數(shù)有機(jī)物和無機(jī)物的基頻吸收都出現(xiàn)在中紅外區(qū)域,因此中紅外區(qū)也是研究最多、應(yīng)用也最為廣泛的區(qū)域,大多數(shù)的譜庫(kù)也集中在此區(qū)域。近紅外主要是由于分子振動(dòng)的倍頻和合頻吸收,適用于碳?xì)溆袡C(jī)物質(zhì)的組成和性質(zhì)測(cè)定,但需要注意,使用時(shí)需配備齊全的化學(xué)計(jì)量學(xué)軟件。
表1 不同紅外區(qū)域?qū)?yīng)的波長(zhǎng)和波數(shù)
二、IR能做什么?
1、已知物的確證
將樣品的紅外光譜譜圖與標(biāo)準(zhǔn)譜圖進(jìn)行對(duì)比(見圖2),或者與文獻(xiàn)上的譜圖進(jìn)行對(duì)比/對(duì)照,由此進(jìn)行已知物質(zhì)的基團(tuán)/結(jié)構(gòu)的確證。如果兩張譜圖吸收峰的位置和形狀一樣,峰強(qiáng)度一致,可認(rèn)為樣品大概率為該種物質(zhì)(從嚴(yán)謹(jǐn)角度辨別,還需其他佐證)。但如果兩張譜圖不一樣,或峰位置不同,則說明其不為同一種物質(zhì),或有雜質(zhì)。但是用此方法,還需要注意樣品與譜圖上的物質(zhì)狀態(tài)、測(cè)試條件等是否相同。
圖2 紅外測(cè)試結(jié)果和譜庫(kù)匹配結(jié)果示例
2、 未知物的鑒別
高分子聚合物材料,一般是指高聚物或以高聚物為主要成分,加入各種有機(jī)或無機(jī)添加劑,再經(jīng)過加工成型制作而成的材料。其中所含高聚物的結(jié)構(gòu)和組成,是決定該材料的結(jié)構(gòu)和性能的主要因素。紅外光譜作為分析和鑒別高分子材料成分的重要手段之一,具有操作簡(jiǎn)單、快速的特點(diǎn),能直觀、高效、準(zhǔn)確的表征出高分子聚合物材料的結(jié)構(gòu)及其變化[3]。
聚合物的結(jié)構(gòu)單元、化學(xué)組成,單體與單體之間的連接方式,支化、交聯(lián)程度都會(huì)影響紅外譜圖,從而紅外光譜圖中吸收峰的位置、強(qiáng)度、形狀等都可作為分子的定性依據(jù)。利用基團(tuán)振動(dòng)頻率與分子結(jié)構(gòu)的關(guān)系來歸屬吸收帶,從而確定分子中所含的基團(tuán)或化學(xué)鍵,進(jìn)而推斷分子的結(jié)構(gòu)。常見的紅外基團(tuán)特征峰對(duì)照表,如表2所示。
表2 常見紅外基團(tuán)特征峰對(duì)照表
一般認(rèn)為,4000 ? 1330 cm-1團(tuán)區(qū),1330 ? 400 cm-1為指紋區(qū)。指紋區(qū)沒有特性,可用于整個(gè)分子的表征,但要將全部的指紋區(qū)頻率進(jìn)行指認(rèn)、歸屬,挑戰(zhàn)比較大。
3、定量分析
紅外光譜定量分析是通過對(duì)特征吸收譜帶強(qiáng)度的測(cè)量來求出組分含量。其理論依據(jù)是朗伯-比耳定律。由于紅外光譜的譜帶較多,選擇的余地大,所以能方便地對(duì)單一組分和多組分進(jìn)行定量分析。此外,該方法不受樣品狀態(tài)的限制,能定量測(cè)定氣體、液體和固體樣品。雖然應(yīng)用廣泛,但其缺點(diǎn)是靈敏度較低,尚不適用于微量組分的測(cè)定。
該方法的基本原理是:通過譜帶兩翼透過率最大點(diǎn)作光譜吸收的切線,作為該譜線的基線,分析波數(shù)處的垂線與基線的交點(diǎn),與最高吸收峰頂點(diǎn)的距離為峰高,其吸光度A = lg (I0 / I)。一般用校準(zhǔn)曲線法或與標(biāo)樣比較來定量。
4、固化率的測(cè)試
聚合物材料,如涂料、膠黏劑等的固化率的測(cè)試,既可以節(jié)省操作時(shí)間,又可以保證聚合物材料固化到允許下一步操作的強(qiáng)度,或者達(dá)到最佳的聚合物性能。聚合物材料的固化過程是從原膠狀態(tài)經(jīng)過合適的條件后發(fā)生交聯(lián)固化,但有時(shí)因?yàn)楣袒瘲l件不合適或是其他原因,導(dǎo)致固化并不或者過固化,從而使產(chǎn)品發(fā)生各種不良狀況,如脫膠、開裂等等,因此在聚合物材料的研發(fā)和應(yīng)用過程中測(cè)試固化率就顯得尤為重要。
紅外光譜進(jìn)行固化度的測(cè)試可應(yīng)用于:環(huán)氧樹脂、聚氨酯樹脂、乙烯基聚合硅橡膠等熱固性樹脂??梢匝芯恳韵鹿袒^程:1)固化過程中官能團(tuán)的斷裂和重組;2)固化反應(yīng)的機(jī)理;3)判斷固化反應(yīng)的程度;4)測(cè)試樣品的固化率,示例如圖3所示。
圖3 紅外光譜儀用于阻燃油墨的固化率計(jì)算。其中:1480 cm-1為丙烯基(光固化組分)峰,914 cm-1為環(huán)氧基(熱固化組分)峰,611 cm-1為基準(zhǔn)點(diǎn)(填料組分)峰
5、監(jiān)控反應(yīng)過程
紅外光譜在化學(xué)分析領(lǐng)域應(yīng)用廣泛,而在化工生產(chǎn)或化學(xué)反應(yīng)過程中也是重要的反應(yīng)監(jiān)控手段,如在化學(xué)反應(yīng)過程中可直接用反應(yīng)液或粗品進(jìn)行檢測(cè)。根據(jù)原料和產(chǎn)物特征峰的消長(zhǎng)情況,對(duì)反應(yīng)進(jìn)程、反應(yīng)速度和反應(yīng)時(shí)間等問題能及時(shí)做出判斷。
6、鑒定樣品純度和指導(dǎo)分離操作
通常純樣品的光譜吸收峰較尖銳,彼此分辨清晰,但如果含5%以上雜質(zhì),由于多種分子各自的吸收峰互相干擾,常常降低了每個(gè)峰的尖銳度,有的線條還會(huì)模糊不清。加之有雜質(zhì)本身的吸收,使不純物的光譜吸收峰數(shù)目比純品多,故與標(biāo)準(zhǔn)圖譜對(duì)比即可判斷純度。
三、布魯克的紅外光譜儀
德國(guó)布魯克公司的真空型傅立葉變換紅外光譜儀Vertex 70V,配備了DTGS、MCT和InGaAs檢測(cè)器,可用于中紅外、遠(yuǎn)紅外和近紅外測(cè)試,檢測(cè)范圍15000 ? 50 cm-1。并配置了固體、氣體和液體樣品池以及金剛石ATR附件,可用于各種形態(tài)的樣品測(cè)試。
圖4 真空型傅立葉變換紅外光譜儀Vertex 70V
布魯克VERTEX 70v真空光譜儀非常適用于需要高靈敏度、高穩(wěn)定性和高時(shí)間分辨率的研究應(yīng)用。低至遠(yuǎn)紅外/太赫茲的光譜范圍,使之還適用于工業(yè)領(lǐng)域的特定應(yīng)用。除了高分子聚合物材料成分分析外,多功能VERTEX 70v系統(tǒng)通過與適當(dāng)?shù)母郊跋鄳?yīng)的測(cè)試技術(shù)相結(jié)合,可為FTIR光譜分析領(lǐng)域幾乎所有需求提供解決方案。
研發(fā)
用于時(shí)間分辨以及幅度調(diào)制(AM)相位調(diào)制(PM)光譜的連續(xù)和步進(jìn)掃描技術(shù) (步進(jìn)掃描 / 快速掃描 / 交叉掃描時(shí)間分辨光譜 TRS)
超高真空中的FT-IR光譜分析
用于電極表面和電解質(zhì)的原位研究的FT-IR光譜電化學(xué)
蛋白質(zhì)水溶液研究 (CONFOCHECK)
確定分子的絕對(duì)構(gòu)型 (VCD)
制藥
通對(duì)藥物產(chǎn)品的穩(wěn)定性和揮發(fā)物含量進(jìn)行表征 (TGA-FT-IR)
遠(yuǎn)紅外譜區(qū)區(qū)分活性藥物成分的多晶型物 (BRUKER FM)
聚合物與化學(xué)
遠(yuǎn)紅外譜區(qū)識(shí)別聚合物復(fù)合材料中的無機(jī)填料 (BRUKER FM)
聚合物動(dòng)態(tài)和流變學(xué)研究
測(cè)定揮發(fā)性化合物及表征熱分解過程 (TGA-FTIR)
反應(yīng)監(jiān)測(cè)和反應(yīng)控制 (中紅外光纖探頭)
識(shí)別無機(jī)礦物質(zhì)和顏料
表面分析
薄膜和單分子層檢測(cè)與表征
結(jié)合偏振調(diào)制進(jìn)行表面分析 (PM-IRRAS)
材料科學(xué)
光學(xué)和高反射材料(光窗、反射鏡)的表征
通過光聲光譜學(xué)(PAS)研究深色物質(zhì)和深度剖析
材料的發(fā)射行為表征
半導(dǎo)體
硅晶圓中氧和碳含量的測(cè)定進(jìn)行質(zhì)量控制
相關(guān)產(chǎn)品
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