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| 供貨周期 | 一個(gè)月 | 貨號(hào) | 7800370 |
|---|---|---|---|
| 主要用途 | 貝克曼儀器配套使用 |
訂貨號(hào)：7800370,7800372,7800377,7800499
貝克曼原廠原包裝。
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
貝克曼標(biāo)準(zhǔn)測試試劑，貝克曼標(biāo)準(zhǔn)測試粉末，貝克曼標(biāo)準(zhǔn)粒子。
訂貨號(hào)：7800370,7800372,7800377,7800499
廣州北瑞色譜科技有限公司專業(yè)提供貝克曼各類標(biāo)準(zhǔn)測試試劑。標(biāo)準(zhǔn)粒子等，如您需要的不在本列表，請(qǐng)致電我司查詢。
| Part No | Description |
| 6600703 | Dispersant IA Nonionic (15 mL) |
| 6600704 | Dispersant IB Nonionic (15 mL) |
| 6600705 | Dispersant IC Nonionic (15 mL) |
| 6600706 | Dispersant IIA Anionic (15 mL) |
| 6600707 | Dispersant IIIA Cationic (15 mL) |
| 6600708 | Dispersant Mixed Kit (5 x 15 mL) |
| 7800370 | G15, Nominal 15 µm Garnet Particles (10/box) |
| 7800372 | GB500, Nominal 500 µm Glass Beads (5 x 19 g) |
| 7800377 | L300, Nominal 300 nm Latex Particles |
| 7800499 | G35, Nominal 35 µm Garnet Particles |
| 8546733 | isoton Ⅲ diluent |
貝克曼庫爾特粒度分析儀系列
- Multisizer 4e 顆粒/細(xì)胞計(jì)數(shù)及粒度分析儀
- Multisizer 3顆粒/細(xì)胞計(jì)數(shù)及粒度分析儀
- DelsaMax PRO 多角度Zeta電位及納米粒度同步分析儀
- DelsaMax CORE 靜態(tài)分子量與納米粒度同步分析儀
- SA3100比表面積及孔徑分析儀
- LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析儀
- LS 13 320系列全新微納米激光粒度分析儀
粒度分析的基本概念
（1）顆粒：具有一定尺寸和形狀的微小物體，是組成粉體的基本單元。它宏觀很小，但微觀卻包含大量的分子和原子；
（2）粒度：顆粒的大?。?/p>
（3）粒度分布：用一定的方法反映出一系列不同粒徑顆粒分別占粉體總量的百分比；
（4）粒度分布的表示方法：表格法（區(qū)間分布和累積分布）、圖形法、函數(shù)法，常見的有R-R分布，正態(tài)分布等；
（5）粒徑：顆粒的直徑，一般以微米為單位；
（6）等效粒徑：指當(dāng)一個(gè)顆粒的某一物理特性與同質(zhì)球形顆粒相同或相近時(shí)，我們就用該球形顆粒的直
徑來代表這個(gè)實(shí)際顆粒的直徑；
（7）D10，累計(jì)分布百分?jǐn)?shù)達(dá)到10% 所對(duì)應(yīng)的粒徑值；
D50，累計(jì)分布百分?jǐn)?shù)達(dá)到50%時(shí)所對(duì)應(yīng)的粒徑值；又稱中位徑或中值粒徑；
D90，累計(jì)分布百分?jǐn)?shù)達(dá)到90%時(shí)所對(duì)應(yīng)的粒徑值；
D（4,3）體積或質(zhì)量粒徑平均值；
常用的粒度測量方法
（1）篩分法
（2）沉降法（重力沉降法、離心沉降法）
（3）電阻法（庫爾特顆粒計(jì)數(shù)器）
（4）顯微鏡（圖像）法
（5）電鏡法
（6）超聲波法
（7）透氣法
（8）激光衍射法
各種方法的優(yōu)缺點(diǎn)
篩分法：優(yōu)點(diǎn)：簡單、直觀、設(shè)備造價(jià)低、常用于大于40μm的樣品。缺點(diǎn)：不能用于40μm以細(xì)的樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
顯微鏡法：優(yōu)點(diǎn)：簡單、直觀、可進(jìn)行形貌分析。 缺點(diǎn)：速度慢、代表性差，無法測超細(xì)顆粒。
沉降法（包括重力沉降和離心沉降）：優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測試范圍較大。 缺點(diǎn)：測試時(shí)間較長。
電阻法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，可測顆?？倲?shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。 缺點(diǎn)：測試范圍較小，小孔容易被顆粒堵塞，介質(zhì)應(yīng)具備嚴(yán)格的導(dǎo)電特性。
電鏡法：優(yōu)點(diǎn)：適合測試超細(xì)顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。 缺點(diǎn)：樣品少、代表性差、儀器價(jià)格昂貴。
超聲波法：優(yōu)點(diǎn)：可對(duì)高濃度漿料直接測量。 缺點(diǎn)：分辨率較低。
透氣法：優(yōu)點(diǎn)：儀器價(jià)格低，不用對(duì)樣品進(jìn)行分散，可測磁性材料粉體。 缺點(diǎn)：只能得到平均粒度值，不能測粒度分布。
激光法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，測試速度快，測試范圍大，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可進(jìn)行在線測量和干法測量。 缺點(diǎn)：結(jié)果受分布模型影響較大