目錄:上海首立實業(yè)有限公司>>HORIBA(過程&環(huán)境)>>RoHS檢測儀器>> HORIBA XGT-1000WRX射線熒光光譜儀
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 食品,化工,石油,電子,制藥 |
---|
HORIBA X射線熒光光譜儀
XGT-1000WR熒光光譜儀主要技術(shù)指標(biāo):
1、 分析元素:Si~U(Cd/Pb高精度型);Na~U(任選:φ1.2 mm/φ0.1 mm切換方式型)
2、 檢測精度:Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm
3、 檢測倉內(nèi)部尺寸:不超過460×360 mm(高150 mm)
4、X射線照射徑:φ1.2 mm(可選:φ1.2 mm/φ0.1 mm 切換)
5、 檢測器:高純硅檢測器 XEROPHY
6、 設(shè)備重量:約 265 kg(不含桌子、計算機(jī))
7、 外形尺寸:分析部分:610(W)×750(D)×500(H)mm
8、 信號處理部:220(W)×500(D)×480(H)mm
9、可同時測量4層金屬鍍層的厚度。
HORIBA在能量色散XRF方面的XGT(X射線導(dǎo)向管聚焦)技術(shù)實現(xiàn)了微小面積、高X射線能量聚焦測量,確保了微區(qū)測量、快速測量、高精度測量。HORIBA XGT1000WR便是一款經(jīng)典機(jī)型。
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)