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當(dāng)前位置：北京百納創(chuàng)業(yè)科技有限公司>>分析儀器>> BN/DT-LM鋁膜測厚儀
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號BN/DT-LM
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地北京市
更新時間：2024-09-19 15:40:30瀏覽次數(shù)：82次
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 | 方阻 | ±0.15Ω |
|---|
鋁膜測厚儀型號：BN/DT-LM
鋁膜測厚儀
可測量范圍與量程：被測薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%
測量量程 厚度90～800?（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□
精que度： 測量準(zhǔn)確度 厚度 ±(20?+2%讀數(shù))
方阻 ±0.15Ω/□（在300～500?范圍）
讀數(shù)重現(xiàn)性 10? (同一測量點(diǎn)) 注：1微米＝1000納米＝10000埃
可測量范圍與量程：被測薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%
測量量程 厚度90～800?（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□
精que度： 測量準(zhǔn)確度 厚度 ±(20?+2%讀數(shù))
方阻 ±0.15Ω/□（在300～500?范圍）
讀數(shù)重現(xiàn)性 10? (同一測量點(diǎn)) 注：1微米＝1000納米＝10000埃
可測量范圍與量程：被測薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%
測量量程 厚度90～800?（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□
精que度： 測量準(zhǔn)確度 厚度 ±(20?+2%讀數(shù))
方阻 ±0.15Ω/□（在300～500?范圍）
讀數(shù)重現(xiàn)性 10? (同一測量點(diǎn)) 注：1微米＝1000納米＝10000埃
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