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高強(qiáng)度鹵素光源裝置 是一種宏觀觀察照明裝置,用于檢測(cè)
最終成品表面上的各種缺陷,如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移等,是整個(gè)加工過(guò)程中勞動(dòng)強(qiáng)度最大的部分。半導(dǎo)體晶片和液晶基板的加工
。
YAMADA山田光學(xué) 鹵素強(qiáng)光燈 YP-150ID
YAMADA山田光學(xué) 鹵素強(qiáng)光燈 YP-150ID
用于液晶行業(yè)的鹵素強(qiáng)光燈YP-150I/YP-250I介紹YP-150I 高亮度鹵素射鏡用于Si薄片,玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源,微小瑕疵也可被檢測(cè)出來(lái)特點(diǎn)】1. 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).2. 使用鹵素?zé)糇鳛楣庠矗珳馗哌_(dá)3400°K,照光和顏色均一保證了穩(wěn)定強(qiáng)光的照射。3. 由于冷鏡的使用,使得熱影響與常規(guī)鋁鏡相比較少1/2 到 1/34. 光束直徑由鏡片調(diào)整,30-50mm 之間調(diào)整5. 底部開(kāi)光,調(diào)整照明勘察器高度,操作簡(jiǎn)便,可控制光量。高亮度鹵素射鏡YP-150I YP-250I照射范圍 30mmφ 60mmφ照度 ≥ 400,000 lx ←照射距離 140mm 220mm光源 鹵素?zé)?使用冷鏡) ←燈型 JCR15V150W ELC24V250W壽命 50小時(shí) 35 小時(shí)色溫 3,400K° ←
可檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上,是一種用于宏觀觀察的照明裝置。
高亮度鹵素射鏡
表面檢查燈40WLX強(qiáng)光燈光斑60mm參數(shù):
照射范圍 30mmφ 60mmφ
照度 ≥ 400,000 lx ←
照射距離 140mm 220mm
光源 鹵素?zé)?使用冷鏡) ←
燈型 JCR15V150W ELC24V250W
壽命 5W小時(shí)
色溫 3,400K° ←
色調(diào) 白 ←
環(huán)境溫度 0~40℃ ←
冷卻方式 強(qiáng)制排氣 ←
連接 12φ 20φ
尺寸 100(W)×245(H)×116(D)mm 120(W)×388(H)×130(D)mm
重量 1.7 ㎏(17N) 2.7 ㎏(27N)
輸入電壓 AC100V 50/60Hz AC100V 50/60Hz
功率 200W 350W
變化范圍 AC5~12V AC10~22V
環(huán)境溫度 0~40℃ ←
冷卻方式 自然 強(qiáng)制排氣
尺寸 140(W)×94(H)×185(D)mm 135(W)×72(H)×260(D)mm
重量 2.4 ㎏ 2 ㎏
其他 輸入電線 :2m VCTF-電線 0.75sq
(外加一插座)
輸出電線 :2m VCTF-電線 1.25sq
(外加一金屬連接器)
腳踏開(kāi)關(guān)線:3m
(底部金屬連接器) 輸入電線 :2m VCTF-電線 0.75sq
(外加一插座)
輸出電線 :2m VCTF-電線 1.25sq
(外加一金屬連接器)<span none"="">
日本山田光學(xué)YP-150I/250I高亮度鹵素射鏡
日本山田光學(xué)YP-150I/250I高亮度鹵素射鏡
山田光學(xué)YP-250I