分布式超級電容模組PACK容量內(nèi)阻測試儀N5831系列簡介

同系列型號：N5831-05-300 N5831-12-250 N5831-25-120 N5831-50-60 N5831-100-30

N583系列為NG公司針對超級電容研發(fā)和生產(chǎn)而自主設計開發(fā)的超級電容模組/PACK容量內(nèi)阻測試儀。N5831系列可對超級電容充電容量、放電容量、充電等效串聯(lián)內(nèi)阻（DCIR）、放電等效串聯(lián)內(nèi)阻（DCIR）、能量轉(zhuǎn)換效率、循環(huán)壽命等電氣參數(shù)進行高精度測試測量。N5831系列可提供多種測試方法，用戶可根據(jù)需要靈活選擇。N5831系列上位機軟件支持平臺化測試應用，用戶可根據(jù)測試工藝和測試流程自行定制測試文件，測試結(jié)果可方便存儲和導出。導出格式可支持數(shù)據(jù)庫、EXCEL、JPG文件。

分布式超級電容模組PACK容量內(nèi)阻測試儀N5831系列產(chǎn)品特點

■  電壓范圍：0-200V

■  電流范圍：0-1200A

■  轉(zhuǎn)換速度快，恒壓恒流過程轉(zhuǎn)換速度高達1ms

■  超高測試精度

■  支持用戶自定義測試流程

■  智能測試步驟編輯，提高配置效率

■  多通道集中控制，通道間獨立運行

■  超高采樣速度，最高采樣速度高達1ms

■  DCIR測量支持多種主流模式，應用靈活

■  支持分選功能，客戶可根據(jù)自己規(guī)格指標設定分選等級

■  標準19英寸機箱，節(jié)省寶貴空間

■  兼容A/h、W/h、F等多種容量測試方法

功能與優(yōu)勢

硬件設計特色

多種型號與功率-滿足各種測試需求

1）具有多種規(guī)格可供選擇：電壓范圍：0-200V，電流范圍：0-1200A，功率范圍：0-200kW
2）模塊化設計方式，功率可按需求配置

3）豐富的測試夾具與功率范圍，支持各類電池單體與電池模組測試
4）電壓輸出基本精度：0.05%，電流輸出基本精度：0.05%

高頻采樣測量技術-提高測量準確度

電壓電流采樣率高達1mS

一般電池充放電測試器使用軟件記錄值來計算電容量與能量，然而有限的數(shù)據(jù)采樣率在計算動態(tài)電流時會導致較大誤差；通過提高V/I采樣率能夠以更高的精確度提供容量計算。當電流瞬間變化時，數(shù)據(jù)不失真，傳輸速度不受影響。

支持多種電池夾具-方便各種用戶的測量

N5831系列超級電容容量內(nèi)阻測試儀提供四類電池夾。通用型夾具，適用于夾持各類圓柱形電池；科研用夾具（含大電流設備使用夾具），用鱷魚夾將充放電電極、測量電極全部引出，可夾持任意種類研究用異型原電池；聚合物電池專用夾具；扣式電池專用夾具。采用電池夾與儀器相對隔離的機柜結(jié)構(gòu)，配合儀器本身提供硬件軟件保護，提高系統(tǒng)安全性，使用戶的無憂測試得以保證。另外電池夾具與機柜相對隔離的機柜結(jié)構(gòu)使對電池恒溫測試易于實現(xiàn)。

充轉(zhuǎn)放過程無過充，響應速度快

采用精密的設計電路，保證充放電過程快速，精確。充電過程中恒流充點轉(zhuǎn)恒壓充電無過充，能保護被測產(chǎn)品，防止由于過程導致測試結(jié)果不準或樣品損毀等情況。恒壓充電轉(zhuǎn)恒流無縫切換，結(jié)合1ms高速采樣，真實還原出產(chǎn)品測試過程，滿足用戶測試QC/T741、六步法、充轉(zhuǎn)放法對直流等效內(nèi)阻（DCIR）的測試要求。

支持四電極測量-降低電壓測量誤差

所有電池夾具均為4電極，2個輸出電極用于提供測試電流，另2個測量電極用于測量電池電壓。多電極測量不僅提高測量精度，而且支持參比電極測試，適合于電極材料的研究使用。

支持多路溫度采集

N5831全系列支持16路溫度采集，可根據(jù)各種NTC規(guī)格參數(shù)，滿足用戶對超級電容包內(nèi)部溫度的實時監(jiān)控，確保產(chǎn)品在測試過程中安全穩(wěn)定。

軟件設計特色

▲ N5831測試軟件采用平臺化設計，用戶可根據(jù)工藝需求自行定制測試流程。
▲ 類Office界面風格，支持電壓電流波形繪制，可以以表格形式顯示,結(jié)果等諸多元素，使得這款專業(yè)軟件在具備強大測試 功能同時，兼具美觀易用優(yōu)點。
▲ 設計有功率限制電路，反應時間極短，可有效保護負載不會因為過功率而損壞。
▲ 采用全屏蔽技術，對惡劣測試環(huán)境具有廣泛適應性，有效提高了負載抗干擾能力。

容量測量

直流內(nèi)阻（DCIR）測試

壽命測試

N5831可通過重復充放電循環(huán)測試，測量超級電容在充放電過程中表征壽命特征的各項物理參數(shù)并提取其衰減曲線。通過分析參數(shù)衰減曲線，用戶可獲取超級電容在不同應用環(huán)境下的預計壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標。壽命測試結(jié)果可用于指導材料、工藝、存儲等諸多環(huán)節(jié)的改善。

產(chǎn)品尺寸