半導體IC蒸汽老化試驗箱簡介：

      蒸汽老化試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。老化箱整體由SUS #304 不銹鋼制成，操作設定簡易，微電腦數位LED控制，具有時間設定功能，多重超溫保護、缺水切斷電熱等安全裝置。

半導體IC蒸汽老化試驗箱用途：

適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。

蒸汽老化試驗箱控制系統(tǒng)：

微電腦溫度控制器、LED數字顯示，PID+SSR控制,白金電阻溫度傳感器（PT-100），解析度0.1℃，全自動安全保護裝置。

蒸汽老化試驗機技術規(guī)格參數：

內部尺寸：500×400×170（W×H×D）mm；

外部尺寸:600×500×420（W×H×D）mm；

蒸屜尺寸:300×120×60(L*W*H mm)   三個

內外箱體材質：SUS304#優(yōu)質不銹鋼板；

保溫層：巖棉

升溫時間:大約40分鐘；控制功能:PID+SSR,數字式顯示；

溫控器：采用CHB401智能溫度控制器。成熟耐用。

溫度范圍:RT-98℃

控制精度：±0.5℃

溫度均勻度：≤2℃

計時功能：1～9999分鐘，附時到報警功能，時間到達后切斷電源；

水位控制：自動補水，缺水斷電功能以防干燒。

電熱管：采用304不銹鋼發(fā)熱管.

電源：AC 220V±10% 50Hz  3.0KW

滿足標準：

符合軍規(guī)MTL-STP-208F，202