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Amerigo高分辨納米粒度和zeta電位分析儀
l 結(jié)合Wallis和Vasco Kin的功能，具有高分辨測量能力
l 非接觸遠(yuǎn)程測量納米粒度的動力學(xué)分析
l zeta電位的可編程動力學(xué)實(shí)驗(yàn)（zeta 對 溫度/pH/時間）
l 動態(tài)時間切片功能，可進(jìn)行數(shù)據(jù)后處理
l 可選高濃度Flex探頭，連續(xù)監(jiān)測漿料的粒度變化
l 結(jié)合Wallis和Vasco Kin的功能，具有高分辨測量能力
l 非接觸遠(yuǎn)程測量納米粒度的動力學(xué)分析
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l 動態(tài)時間切片功能，可進(jìn)行數(shù)據(jù)后處理
l 可選高濃度Flex探頭，連續(xù)監(jiān)測漿料的粒度變化
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l 非接觸遠(yuǎn)程測量納米粒度的動力學(xué)分析
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