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非接觸式無損方塊電阻測試儀、晶圓方阻測試儀，方阻測試儀，硅片電阻率測試儀，渦流法高低電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，渦流法電阻率探頭和PN探頭測試儀，遷移率（霍...

霍爾遷移率測試儀主要利用微波測試原理，非接觸式測量射頻HEMT結(jié)構(gòu)半導(dǎo)體材料的方阻、遷移率及載流子濃度?？蓪崿F(xiàn)單點測試，亦可以實現(xiàn)面掃描的測試功能，具有快速，無...

渦流法?電阻率方阻是一種利用電磁感應(yīng)原理進行檢測的方法。當(dāng)載有交變電流的試驗線圈靠近導(dǎo)體工件時，會產(chǎn)生交變磁場，進而在工件中感生出密閉的環(huán)狀電流，即渦流。渦流的...

設(shè)備主要利用渦電流測試原理，非接觸測試半導(dǎo)體材料，石墨烯，透明導(dǎo)電膜，碳納米管，金屬等材料的方阻（電阻率）?？蓪崿F(xiàn)單點測試，亦可以實現(xiàn)面掃描的測試功能，可用于材...

PN型測試儀可以測試硅片PN型號、硅片厚度也是影響生產(chǎn)力的一個因素，因為它關(guān)系到每個硅塊所生產(chǎn)出的硅片數(shù)量。超薄的硅片給線鋸技術(shù)提出了額外的挑戰(zhàn)，因為其生產(chǎn)過程...

晶圓電阻率測試儀，硅片電阻率測試儀，渦流法低電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，遷移率（霍爾）測試儀，少子壽命測試儀，

晶圓電阻率測試儀，硅片電阻率測試儀，渦流法電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，遷移率（霍爾）測試儀，少子壽命測試儀，為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測試等生產(chǎn)和品質(zhì)監(jiān)控，...

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