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          數(shù)字式四探針測(cè)試儀

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          • 數(shù)字式四探針測(cè)試儀
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          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 型號(hào) XNC-2253
          • 品牌 其他品牌
          • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
          • 所在地 北京市
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          更新時(shí)間:2021-12-11 19:34:09瀏覽次數(shù):198

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          產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),農(nóng)業(yè),地礦,電子
          電 阻 1×10-4~2×105 Ω
          XNC-2253型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

          詳細(xì)介紹

          XNC-2253數(shù)字式四探針測(cè)試儀


                XNC-2253數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

              儀器成套組成:由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)以及PC軟件等部分組成。

              主機(jī)主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成,USB通訊接口。儀器主機(jī)所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關(guān)輸入;具有零位、滿度自校功能;測(cè)試功能可自動(dòng)/手動(dòng)方式;儀器操作可由配套軟件在PC機(jī)上操作完成,也可脫PC機(jī)由四探針儀器面板上獨(dú)立操作完成。測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機(jī)數(shù)碼管直接顯示,也可連機(jī)由軟件界面同步顯示、分析、保存和打?。?/span>

              探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具,還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。配專用探頭,也可測(cè)試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。

              測(cè)試臺(tái)選配:一般四探針?lè)y(cè)試電阻率/方阻配SZT-ASZT-BSZT-CSZT-F型測(cè)試臺(tái)。二探針?lè)y(cè)試電阻率測(cè)試選SZT-K型測(cè)試臺(tái),也可選配SZT-D型測(cè)試臺(tái)以測(cè)試半導(dǎo)體粉末電阻率,選配SZT-G型測(cè)試臺(tái)測(cè)試橡塑材料電阻率。

                詳見《四探針儀器、探頭和測(cè)試臺(tái)的特點(diǎn)與選型參考》點(diǎn)擊進(jìn)入

              儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測(cè)量簡(jiǎn)便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn)。

          儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。

          三、基本技術(shù)參數(shù)

          3.1  測(cè)量范圍

                 阻:1×10-42×105 Ω   ,分辨率:1×10-51×102 Ω

              電阻率:1×10-42×105 Ω-cm,分辨率:1×10-51×102 Ω-cm

                阻:5×10-42×105 Ω/□,分辨率:5×10-51×102 Ω/

          3.2  材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)和測(cè)試方式?jīng)Q定)

                   徑:SZT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15130mm,手持方式不限

              SZT-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm,手持方式不限.

              長(zhǎng)()度:測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H100mm,    手持方式不限.

              測(cè)量方位: 軸向、徑向均可

          3.3.  4-1/2 位數(shù)字電壓表:

              (1)量程: 20.00mV2000mV

             (2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2

          3.4 數(shù)控恒流源

              (1)量程:0.1μA,1μA,10μA100µA,1mA,10mA,100mA,1A

             (2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2

          3.5 四探針探頭(選配其一或加配全部)

              (1)碳化鎢探針:Φ0.5mm,直線探針間距1.0mm,探針壓力: 02kg 可調(diào)

             (2)薄膜方阻探針:Φ0.7mm,直線或方形探針間距2.0mm,探針壓力: 00.6kg 可調(diào)

          3.6. 電源

              輸入: AC 220V±10% ,50Hz          耗:<20W

          3.7.外形尺寸:

                 機(jī)  220mm(長(zhǎng))×245 mm(寬)×100mm(高)

                重:≤2.5kg

           


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