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          目錄:蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司>>礦產(chǎn)分析儀>>礦產(chǎn)光譜儀>> EDX-9000B PLUSXRF 礦產(chǎn)礦石專用分析儀

          XRF 礦產(chǎn)礦石專用分析儀
          • XRF 礦產(chǎn)礦石專用分析儀
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          參考價 398000
          訂貨量 ≥1
          具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          398000
          ≥1
          具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 品牌 英飛思
          • 型號 EDX-9000B PLUS
          • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
          • 所在地 蘇州市
          屬性

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          >

          更新時間:2024-11-26 13:24:16瀏覽次數(shù):33評價

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          產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 30萬-50萬
          應(yīng)用領(lǐng)域 石油,地礦,能源,建材
          Simply the Best

          >先進制成Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器

          >真空光路配備薄膜濾光片技術(shù),提高輕元素檢出限

          >可同時分析40種元素

          >可分析固體,液體,粉末和泥漿

          >進口X光管管芯提供可靠樣品激發(fā)性能

          >無損檢測,快速分析(1-2分鐘出結(jié)果)

          >無需化學(xué)試劑,無耗材,更環(huán)保,更高效

          EDX9000B Plus能量色散X熒光光譜儀-礦產(chǎn)/礦石分析專家

          ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應(yīng)用于采礦作業(yè)(勘探、開采、品位控制),工業(yè)礦物,生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料,耐火材料,陶瓷和玻璃,地球化學(xué)學(xué)術(shù)研究,考古等。EDX9000B plus優(yōu)異的線性動態(tài)范圍,可實現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進行超高精度的過程控制和質(zhì)量控制。具有全新真空光路系統(tǒng)和超高分辨率技術(shù)的新一代Fast SDD檢測器,對輕、中、重元素和常見氧化物(Na2O、MgO、Al2O?、SiO?、P2O5、SO?、K2O、CaO、TiO?、Cr2O?、MnO、Fe2O?、ZnO和SrO等)都可達到最佳分析效果。


          EDX9000B plus可以輕松完成對以下礦種的測試:

          鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等)銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等)鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等)鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等)鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等)鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等)鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等)鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等)鋁土礦其它礦類


          產(chǎn)品特點

          1.小型化、高性能、高速度、易操作,Na11-U92高靈敏度、高精度分析2.可同時分析40種元素3.采用多準(zhǔn)直器多濾光片和扣背景技術(shù)

          4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復(fù)性和長期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率5.超高記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計,雙真空抽速機構(gòu),真空度自動穩(wěn)定系統(tǒng)6.標(biāo)配基本參數(shù)法軟件,多任務(wù),多窗口操作7.薄膜濾光片技術(shù),有效提高輕元素檢出限礦產(chǎn)元素檢測專家EDX9000B Plus


          >儀器參數(shù)

          XRF 礦產(chǎn)礦石專用分析儀

          >儀器配置

          XRF 礦產(chǎn)礦石專用分析儀


          全新設(shè)計的XTEST分析軟件

          軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法(FP),經(jīng)驗系數(shù)法(EC),可輕松分析各類樣品。*光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性,堆積峰和峰總和,平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量*對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的校正,即所有基質(zhì)效應(yīng),增強和吸收。*譜顯示:峰定性,KLM標(biāo)記,譜重疊比較,可同時顯示多個光譜圖*可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應(yīng),將光峰強度建模為高斯函數(shù)。*可以使用純基本參數(shù)方法,具有分散比的基本參數(shù)(對于包含大量低Z材料的樣品)或通過簡單的最小二乘擬合進行定量分析。*基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標(biāo)準(zhǔn),多個標(biāo)準(zhǔn)或沒有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。


          鋁土礦樣品10次連續(xù)測試穩(wěn)定性報告

          XRF 礦產(chǎn)礦石專用分析儀


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