產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 1萬(wàn)-5萬(wàn) |
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儀器種類(lèi) | 其他 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油,能源,建材,交通 |
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
奧林巴斯?超聲波探傷儀相控陣探頭10L16-A00 10L32-A10
5L10-A0-TOP 5L10-A0-SIDE 10L10-A0-SIDE 10L10-A0-TOP小底面相控陣探頭
小底面探頭的優(yōu)勢(shì)特性
● 可進(jìn)入狹窄的區(qū)域
(A00探頭的底面面積只有8 × 8平方毫米)。
● 線纜可以從側(cè)面、背面或上面伸出。
● 特制的小接觸面楔塊。
● 10L16-A00用于飛機(jī)的劃痕檢測(cè)
典型應(yīng)用
A10探頭
● 對(duì)6 35毫米到38毫米的厚焊縫進(jìn)行手動(dòng)檢測(cè)。
● 探測(cè)缺陷并定量缺陷。
● 檢測(cè)鑄件、鍛件、管道、管件以及各種機(jī)械加工和結(jié)構(gòu)部
件,以探測(cè)出裂紋和焊縫缺陷
相控陣技術(shù)的介紹
相控陣超聲檢測(cè)區(qū)別于其它技術(shù)的特性是可以通過(guò)計(jì)算機(jī)控制對(duì)多晶片探頭中的單個(gè)晶片進(jìn)行激勵(lì)(波幅和延遲)。通過(guò)軟件對(duì)多個(gè)壓電復(fù)合材料晶片的激勵(lì)可以生成一條聚焦的超聲聲束,方法是在發(fā)射聲束的過(guò)程中動(dòng)態(tài)更改聲束的參數(shù),如:角度、焦距和焦點(diǎn)大小。要通過(guò)相位上的積極干涉生成一條聲束,就要以極小的時(shí)間差,分別觸發(fā)探頭的多個(gè)活動(dòng)晶片。同理,從所期望的焦點(diǎn)反射的回波會(huì)以可以計(jì)算獲得的時(shí)間偏移觸碰到探頭的不同晶片。在將每個(gè)晶片接收到的回波信號(hào)匯總之前,需對(duì)這些回波信號(hào)進(jìn)行時(shí)間偏移計(jì)算。匯總的結(jié)果是生成一個(gè)A掃描,這個(gè)A掃描會(huì)突出顯示來(lái)自所需焦點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào),而弱化來(lái)自被測(cè)樣件其它部位的信號(hào)。
使用軟件控制聲束角度、焦距和焦點(diǎn)大小
要生成一條超聲聲束,就需要在差別極小的不同時(shí)間對(duì)探
頭的不同晶片進(jìn)行脈沖激勵(lì)。通過(guò)控制探頭晶片之間的時(shí)間延遲,可以生成具有不同角度、不同焦距及不同焦點(diǎn)大小的聲束。從所期望的焦點(diǎn)反射的回波會(huì)以可以計(jì)算獲得的時(shí)間偏移觸碰到探頭的不同晶片。在將每個(gè)晶片接收到的回波信號(hào)匯總之前,需對(duì)這些回波信號(hào)進(jìn)行時(shí)間偏移計(jì)算。信號(hào)匯總的結(jié)果是生成一個(gè)A掃描。這個(gè)A掃描會(huì)突出顯示來(lái)自所期望焦點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào),而弱化來(lái)自材料其它部位的各種回波。
使用以電子方式控制的單個(gè)小巧的多晶探頭可以完成多角度檢測(cè)
常規(guī)UT檢測(cè)需要使用多種不同的探頭。而一個(gè)單個(gè)相控陣(PA)探頭則可以根據(jù)應(yīng)用的要求進(jìn)行配置,以序列方式產(chǎn)生不同的角度和焦點(diǎn)。
無(wú)需移動(dòng)部件而完成高速掃查
雖然相控陣技術(shù)要對(duì)來(lái)自多晶片探頭的許多信號(hào)進(jìn)行處理,但是我們要知道:其所得到的信號(hào)是一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的射頻(RF)信號(hào)(或A掃描),這個(gè)信號(hào)與任何使用固定角度探頭的常規(guī)系統(tǒng)得到的信號(hào)相同。這個(gè)信號(hào)與來(lái)自常規(guī)UT系統(tǒng)的任何A掃描一樣,可被評(píng)估、處理、過(guò)濾并生成圖像。基于A掃描創(chuàng)建的B掃描、 C掃描和D掃描,也與常規(guī)系統(tǒng)生成的這類(lèi)圖像一樣。它們之間的區(qū)別在于相控陣系統(tǒng)可以使用單個(gè)探頭完成多角度檢測(cè)。多路傳輸還可以在探頭不動(dòng)的情況下完成掃查:聚焦聲束
由一個(gè)裝有許多晶片的長(zhǎng)相控陣探頭的幾個(gè)晶片創(chuàng)建。然后聲束被移動(dòng)(或稱多路傳輸)到其它晶片,以在不移動(dòng)探頭的情況下,沿掃查軸方向?qū)ぜM(jìn)行高速掃查。這樣探頭就可以不同的檢測(cè)角度進(jìn)行一次以上的掃查。這個(gè)原理可被應(yīng)用到使用線性相控陣探頭進(jìn)行的平面工件檢測(cè),也可被應(yīng)用到使用圓形相控陣探頭進(jìn)行的管材和棒材檢測(cè) 。
奧林巴斯?超聲波探傷儀相控陣探頭10L16-A00 10L32-A10
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