您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
相控陣探傷儀的知識點詳解
閱讀：1938 發(fā)布時間：2021-8-25
相控陣探傷儀通過軟件可以單獨控制相控陣探頭中每個晶片的激發(fā)時間，從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點尺寸。這種使用扇形掃查方式能提供一定角度范圍的掃查圖像，因此不必像傳統(tǒng)超聲那樣需要頻繁更換不同K值的探頭，就可以輕松覆蓋檢測區(qū)域。作為無損檢測利器，相控陣探傷儀能夠快速、便捷、無損傷、準(zhǔn)確地進行工件內(nèi)部多種缺陷(裂紋、疏松、氣孔、夾雜等)的檢測、定位、評估和診斷。既可以用于實驗室,也可以用于工程現(xiàn)場，如今在各個行業(yè)的應(yīng)用日漸廣泛。
相控陣探傷儀可進行快速檢測，并生成被測工件內(nèi)部結(jié)構(gòu)的精確、詳細(xì)的橫截面圖像。相控陣技術(shù)使用多個超聲晶片及電子時間延遲，創(chuàng)建可以電子方式傳播、掃描、掃查及聚焦的聲波，以進行快速檢測、完整的數(shù)據(jù)存儲，以及多角度的檢測。相控陣技術(shù)可提供極為可靠的測量結(jié)果。
選擇使用相控陣探傷儀時，操作人員無需更換探頭或楔塊就能方便地利用一個探頭達到多個角度和聚焦深度。扇形掃描和精確的波束控制顯著地提高了探測缺