詳細(xì)介紹
CMOS線掃描傳感器ZS64A5K
CMOS線掃描傳感器ZS64A5K
所述ZS64A5K 是CMOS線掃描傳感器與用于非接觸三維測(cè)量非常高的分辨率。借助于透鏡,將要測(cè)量的對(duì)象成像到傳感器中的線性CMOS陣列。鏡頭確定測(cè)量范圍。標(biāo)準(zhǔn)鏡頭可覆蓋1毫米至5000毫米的測(cè)量范圍。
ZS64A5K的特性:
- 高分辨率1:64000
- 測(cè)量范圍5 mm – 5000 mm
- 高靈敏度,可縮短曝光時(shí)間
- 掃描速率4673 / s
- 掃描寬度窄
- 標(biāo)準(zhǔn)版本:檢測(cè)兩個(gè)邊緣位置,亮/暗或暗/亮
- 測(cè)量值:邊A,邊B,BA或(A + B)/ 2
- 可選版本:大檢測(cè) 八個(gè)邊緣位置
- 模擬,校準(zhǔn)的實(shí)時(shí)測(cè)量值
CMOS線掃描傳感器ZS64A5K
引伸計(jì)概述
引伸計(jì)是一種在材料測(cè)試(例如拉伸測(cè)試)過(guò)程中測(cè)量材料樣品應(yīng)變的儀器。原則上,引伸計(jì)有兩種類型:接觸式和非接觸式。接觸測(cè)量可以通過(guò)夾式引伸計(jì)進(jìn)行;這種儀器具有至少兩個(gè)機(jī)械地連接到樣本的邊緣。拉伸樣本會(huì)導(dǎo)致邊緣之間的距離變長(zhǎng),這與樣本長(zhǎng)度的變化相對(duì)應(yīng)。
對(duì)于非接觸式測(cè)量,使用模擬或數(shù)字光學(xué)引伸計(jì)。為了測(cè)量材料樣品上的應(yīng)變,樣品通常帶有黑白標(biāo)記。引伸計(jì)內(nèi)的傳感器檢測(cè)標(biāo)記的運(yùn)動(dòng),從而檢測(cè)拉伸試驗(yàn)期間長(zhǎng)度的變化。有引伸計(jì),即使材料樣品溫度非常高(高達(dá)3000°C),它們也能夠測(cè)量非常快的應(yīng)變(> 100 m / s)。
在拉伸試驗(yàn)中,非接觸式測(cè)量裝置是有利的。通??梢詫⑺鼈?cè)O(shè)置在距樣品一定距離的位置,以防止樣品的飛散碎片損壞測(cè)量?jī)x器。因此,光學(xué)引伸計(jì)也適用于破壞性材料測(cè)試期間的測(cè)量。
H.-D. Rudolph GmbH提供各種類型的光學(xué)引伸計(jì):
- 引伸計(jì)200XR可進(jìn)行高達(dá)500 kHz的非??焖俚臏y(cè)試
- CMOS線掃描傳感器ZS64A5K每秒可實(shí)現(xiàn)1:64000和4673測(cè)量的高分辨率
- 線掃描傳感器ZS16A分別是速度更快的版本ZS16AHS,可實(shí)現(xiàn)1:16000的高分辨率和高穩(wěn)定性
- 引伸計(jì)ZS32和ZS32HS分別具有1:32000的分辨率