兩邊雙側(cè)都有光片掃描器、壓電物鏡定位器和科研型CCD相機(jī)。在實(shí)驗(yàn)過程中從兩個(gè)視圖中采集圖像堆,以及兩個(gè)圖像數(shù)據(jù)庫在計(jì)算機(jī)層面被合并產(chǎn)生各向同性分辨率的3D圖像數(shù)據(jù)庫(常見軸向分辨率較差的問題通過另外一個(gè)視圖的圖像信息而彌補(bǔ))。如果需要可以在單面操作。
雙側(cè)光片顯微鏡you點(diǎn):XY和Y分辨率都非常高-采樣成像速度高,空間分辨率高,非常適合活細(xì)胞成像
雙側(cè)光片缺點(diǎn):購買*多的硬件,各向同性分辨率需要采集數(shù)據(jù)后處理。
ASI DISPIM雙側(cè)倒置面照明顯微鏡 控制器
ASI 雙側(cè)倒置選擇平面照明顯微鏡特點(diǎn)
低光漂白:與傳統(tǒng)共聚焦或轉(zhuǎn)盤式共聚焦相比,光漂白要降低10倍
高速3D成像并帶有各向同性分辨率特點(diǎn)
軸向分辨率高,是傳統(tǒng)共聚焦或轉(zhuǎn)盤式共聚焦的兩倍
成像速率高達(dá)200平米/秒
傳統(tǒng)通用的樣品固定,蓋玻片或開放式的培養(yǎng)皿中
模塊化而靈活搭配
Applied Scientific Instrumentation diSPIM/iSPIM雙側(cè)倒置選擇性平面照明顯微鏡規(guī)格參數(shù)
視場:>400微米(對角線)
分辨率:380nm @500nm波長 在XYZ三軸方向
樣品大?。簩τ谄矫鏄悠凡幌拗?對于半球狀樣品半徑zui大為3.5mm
(上述指標(biāo)受到物鏡參數(shù)影響,上述指標(biāo)采用Nikon 40x/0.8WD物鏡)
樣品固定:蓋玻片或培養(yǎng)皿