SA201-EC掃描法布里-珀luo干涉儀控制箱

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Spectrum Analyzer Controller

產(chǎn)品：Thorlabs激光器，光機(jī)械儀器，光纖，光隔離器等

Thorlabs 生產(chǎn)：光隔離器、光學(xué)元件、

Thorlabs公司已經(jīng)成長為光電子社會的一個組成部分。

Thorlabs公司擁有位于世界各地的10個國家的15個實(shí)質(zhì)性的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)設(shè)施。
干涉儀的應(yīng)用極為廣泛，主要有如下幾方面：

長度測量

在雙光束干涉儀中，若介質(zhì)折射率均勻且保持恒定，則干涉條紋的移動是由兩相干光幾何路程之差發(fā)生變化所造成，根據(jù)條紋的移動數(shù)可進(jìn)行長度的較或測量。邁克耳孫干涉儀和法布里-珀luo干涉儀曾被用來以鎘紅譜線的波長表示米。

折射率測定

兩光束的幾何路程保持不變，介質(zhì)折射率變化也可導(dǎo)致光程差的改變，從而引起條紋移動。瑞利干涉儀就是通過條紋移動來對折射率進(jìn)行相對測量的典型干涉儀。應(yīng)用于風(fēng)洞的馬赫-秦特干涉儀被用來對氣流折射率的變化進(jìn)行實(shí)時觀察。

波長的測量

任何一個以波長為單位測量標(biāo)準(zhǔn)米尺的方法也就是以標(biāo)準(zhǔn)米尺為單位來測量波長的方法。以米為標(biāo)準(zhǔn)，利用干涉儀可定光波波長。法布里-珀luo干涉儀（標(biāo)準(zhǔn)具）曾被用來確定波長的初級標(biāo)準(zhǔn)（鎘紅譜線波長）和幾個次級波長標(biāo)準(zhǔn)，從而通過比較法確定其他光譜線的波長。

檢驗(yàn)光學(xué)元件

泰曼干涉儀被普遍用來檢驗(yàn)平板、棱鏡和透鏡等光學(xué)元件的質(zhì)量。在泰曼干涉儀的一個光路中放置待檢查的平板或棱鏡，平板或棱鏡的折射率或幾何尺寸的任何不均勻性必將反映到干涉圖樣上。若在光路中放置透鏡，可根據(jù)干涉圖樣了解由透鏡造成的波面畸變，從而評估透鏡的波像差。

引力波測量

干涉儀也可以用于引力波探測(Saulson, 1994) [4]  。 激光干涉儀引力波探測器的概念是前蘇聯(lián)科學(xué)家Gertsenshtein和Pustovoit在1962年提出的（Gertsenshtein和Pustovoit 1962） [5]  。 1969年美國科學(xué)家Weiss和Forward則分別在1969年即于麻省理工和休斯實(shí)驗(yàn)室建造初步的試驗(yàn)系統(tǒng)（Weiss 1972） [6]  。 截止今日，激光干涉儀引力波探測器已經(jīng)發(fā)展了40余年。 目前LIGO激光干涉儀實(shí)驗(yàn)宣稱*直接測量到了引力波 (LIGO collaboration 2016) [7]  。 LIGO可以認(rèn)為是兩路光線的干涉儀， 而另外一類引力波探測實(shí)驗(yàn)， 脈沖星測時陣列則可認(rèn)為是多路光線干涉儀（Hellings 和Downs, 1983） [8]  。

其他

用作高分辨率光譜儀。法布里-珀luo干涉儀等多光束干涉儀具有很尖銳的干涉，因而有*的光譜分辨率，常用作光譜的精細(xì)結(jié)構(gòu)和超精細(xì)結(jié)構(gòu)分析。
歷*的作用。19世紀(jì)的波動論者認(rèn)為光波或電磁波必須在彈性介質(zhì)中才得以傳播，這種假想的彈性介質(zhì)稱為以太。人們做了一系列實(shí)驗(yàn)來驗(yàn)證以太的存在并探求其屬性。以干涉原理為基礎(chǔ)的實(shí)驗(yàn)，其中名的是菲佐實(shí)驗(yàn)和邁克耳孫-莫雷實(shí)驗(yàn)。1851年，A.H.L.菲佐用特別設(shè)計(jì)的干涉儀做了關(guān)于運(yùn)動介質(zhì)中的光速的實(shí)驗(yàn)，以驗(yàn)明運(yùn)動介質(zhì)是否曳引以太。1887年，A.A.邁克耳孫和E.W.莫雷合作利用邁克耳孫干涉儀試圖檢測地球相對靜止的以太的運(yùn)動。對以太的研究為A.愛因斯坦的狹義相對論提供了佐證。