* Sartorius 電子分析天平

創(chuàng)新的用戶界面使您的日常實(shí)驗(yàn)室工作變得更加便捷 賽多利斯Quintix®為標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室天平各個(gè)方面設(shè)立了新標(biāo)準(zhǔn)。它的一系列產(chǎn)品特征都使得您的工作流程變得更加高效，比如全自動(dòng)內(nèi)部調(diào)整、數(shù)據(jù)直接傳輸以及符合人體工程學(xué)的設(shè)計(jì)等，最重要的是，它還配備了具有內(nèi)置應(yīng)用程序的全新觸摸屏式用戶界面。產(chǎn)品編號: QUINTIX64-1CN

       定義天平新標(biāo)準(zhǔn)Quintix系列使實(shí)驗(yàn)室工作更加輕松愉快。友好的觸摸屏與精準(zhǔn)的稱量技術(shù)相結(jié)合使Quintix實(shí)驗(yàn)室天平成為獲得*數(shù)據(jù)的*。易于使用的應(yīng)用程序可以有效的簡化您的工作流程。如果您需要GLP格式的文件，無需軟件即插即用的Quintix可以幫您節(jié)約大量的時(shí)間和精力。

　　全新的用戶界面與彩色觸摸屏使得用戶能夠在無需閱讀操作手冊的情況下即可直觀地操作天平

　　整合應(yīng)用程序與直觀的用戶指南提高日常實(shí)驗(yàn)室工作效率

　　通過isoCAL全自動(dòng)內(nèi)部校準(zhǔn)與調(diào)整功能始終確保最高精度與便利性

　　使用天平的直接整合PC功能和即插即用賽多利斯實(shí)驗(yàn)室打印機(jī)記錄保存更容易

　　包裝清單

　　分析天平配有通用的電源適配器，使用中的防塵罩,應(yīng)用指南，防塵罩

　　應(yīng)用領(lǐng)域

　　教育

　　其它

　　研發(fā)

　　生產(chǎn)

　　標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用

　　稱重

　　密度測定

　　百分?jǐn)?shù)

　　檢重

　　峰值保持

　　計(jì)數(shù)

　　在不穩(wěn)定條件下稱重

　　特殊實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用

　　配方

　　組分

　　統(tǒng)計(jì)

　　轉(zhuǎn)換

　　校準(zhǔn)

　　校準(zhǔn)歷史

　　是

　　合規(guī)信息

　　法規(guī)要求

　　GLP

　　GMP

　　符合GLP/GMP要求的打印輸出

　　是

　　計(jì)量認(rèn)證

　　CMC型式批準(zhǔn)證書(中國)

　　連接(數(shù)據(jù))

　　數(shù)據(jù)傳輸

　　直接傳輸至Windows®應(yīng)用程序

　　數(shù)據(jù)接口

　　迷你USB

　　連接(物理)

　　連接

　　PC直接數(shù)據(jù)傳輸

　　即插即用到Sartorius打印機(jī)

　　外型尺寸

　　尺寸(寬x長x高)

　　218×360×320毫米

　　稱盤直徑

　　?90毫米

　　稱量室高度

　　209毫米

　　特征

　　下部稱量

　　是

　　典型穩(wěn)定時(shí)間

　　2秒

　　可讀性

　　0.1毫克

　　密碼保護(hù)

　　否

　　顯示器

　　彩色觸摸屏

　　機(jī)身保護(hù)

　　丙酮可清洗外殼，防風(fēng)罩的玻璃部件都經(jīng)過涂層處理，以減少靜電影響，使用中的蓋罩，用于防風(fēng)罩天平的防塵罩

　　校準(zhǔn)

　　內(nèi)部自動(dòng)(isoCAL)

　　水平調(diào)整

　　操作手冊

　　篡改保護(hù)

　　監(jiān)管鎖

　　語言

　　漢語、英語、法語、德語、意大利語、日本語、波蘭語、葡萄牙語、俄語、西班牙語、匈牙利語、土耳其語

　　重復(fù)性

　　0.1毫克

　　防盜鎖裝置

　　肯辛頓鎖，可連接防盜鎖鏈

　　運(yùn)行條件

　　最大稱重量

　　60克

　　電源要求

　　線電壓

　　100-240 V，50-60赫茲

　　產(chǎn)品信息

　　天平類型

　　電子分析天平

　　技術(shù)指標(biāo)

　　稱量單元

　　g，ct，媽媽，kg，lb，oz，ozt，tlh，tls，tlt，GN，dwt，mg，份| lb，tlc，Kt，tol，bat，MS，N

　　符合USP(典型)的最小樣品量

　　82毫克

　　線性

　　0.2毫克

　　耐化學(xué)性

　　是

　　防塵罩

　　操作手冊

　　重物

　　重量約

　　4.9公斤

* Sartorius 電子分析天平