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原子力顯微鏡測試(AFM) 詳細摘要: 原子力顯微鏡測試(AFM),可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進行探測,或者直接進行納米操縱。
產(chǎn)品型號: 所在地:上海 更新時間:2024-09-05 參考價:¥ 2400 在線留言
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