Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀

簡介

Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀使用 4200A-SCS參數(shù)分析儀（參數(shù)測試儀）加快各類材料、半導體器件和*工藝的開發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能領xian電學特性參數(shù)分析儀，提供同步電流電壓曲線測試 (I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試 (C-V曲線測試) 和超快脈沖 I-V曲線測量。

Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀

特點

參數(shù)查看，快速清晰。

推進大膽發(fā)現(xiàn)從未如此容易。4200A-SCS 參數(shù)分析儀從設置到運行檢定測試的時間減少高達 50％，從而實現(xiàn)無與lun比的測量和分析能力。此外，嵌入式測量專業(yè)知識提供無與lun比的測試指導，并讓您對z終結(jié)果充滿信息。

特點

• 用于 DC IV、CV 和脈沖 IV 測量類型的高級測量硬件

• 立即使用 Clarius 軟件中所含的數(shù)百種用戶可修改應用程序測試開始測試

• 自動實時參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù)

準確的 C-V 表征

使用吉時利新的電容-電壓單元 (CVU) 4215-CVU 測量一位數(shù)飛法。通過將 1 V AC 電源集成到吉時利行業(yè)領xian的 CVU 架構(gòu)中，4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的頻率下進行低噪聲電容測量。

特點

• 同類產(chǎn)品中shou款能夠驅(qū)動1 V AC 電源電壓的 CV 表

• 1 kHz 頻率，分辨率從1 kHz 到 10 MHz

• 測量電容、電導和導納

• 使用 4200A-CVIV 多路開關(guān)z多可測量四個通道

測量、 切換、 重復。

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產(chǎn)品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設置，并在出現(xiàn)意想不到的結(jié)果時輕松排除故障。

特點

• 無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端

• 用戶可配置低電流功能

• 個性化輸出通道名稱

• 查看實時測試狀態(tài)

穩(wěn)定的低電流測量，適用于 I-V 檢定

使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊，您可以在高電容系統(tǒng)中實現(xiàn)穩(wěn)定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號的源測量單位 (SMU) 可供選擇，可通過定制滿足您所有的 I-V 測量需求。通過提供現(xiàn)場可安裝單元和可選的預放大器模塊，Keithley 可確保您獲得z準確的低電流測量，而停機時間很少甚至沒有。

特點

• 不必將儀器送回工廠即可增加 SMU

• 進行 飛安測量

• 多達 9 個 SMU 通道

• 針對長電纜或大卡盤進行了優(yōu)化

帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案

4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

特點

• “點擊"測試定序

• “手動"探測器模式測試探測器功能

• 假探測器模式無需移除命令即可實現(xiàn)調(diào)試

降低成本并保護您的投資

吉時利保障計劃以按需服務事件的一小部分成本提供快速、高質(zhì)量的服務。

生物傳感器檢定

生物傳感器或 bioFET 將對分析物的生物響應轉(zhuǎn)換為電信號。集成到 4200A-SCS 中的 Clarius 軟件包括一個用于測試 bioFET 的項目。以此為起點檢定生物傳感器的傳輸和輸出特性，并從這里展開工作。

飛法電容測量

使用 4215-CVU 模塊測量亞毫微微法拉電容。通過驅(qū)動 1 V AC，在測量 1 fF 電容器時，4215-CVU 的噪聲水平可低至 6 attofarad。這只是 Clarius 軟件隨附的用于測量電容和提取重要參數(shù)的數(shù)十種應用程序之一。

特點

• 內(nèi)置飛法測量功能

• 從 1kHz 到 10MHz 的 10,000 個頻率步進

• 使用用戶庫定制任何設備的任何測試

半導體和 NVM 可靠性

通過全面脈沖 I-V 檢定在測試中利用新技術(shù)。 4200A-SCS 為新 NVRAM 技術(shù)提供支持和即用型測試，從浮動門電路閃存到 ReRAM 和 FeRAM，不一而足。 電流和電壓雙源和測量功能同時支持瞬態(tài)和 I-V 域檢定。

提供適合高阻抗應用的 C-V 測量功能

采用 Keithley 的自定義極低頻 C-V 技術(shù)分析高電阻樣本的電容。 該技術(shù)可通過僅使用源測量單元 (SMU) 儀器實現(xiàn)應用，同時可與 4210-CVU 結(jié)合使用，執(zhí)行更高頻率測量。

特點

• .01 ~ 10 Hz 頻率范圍，1 pF ~ 10 nF 靈敏度

• 3? 位典型分辨率，z小典型值 10 fF

使用長電纜或電容式夾具時進行測試

當測試需要非常長的電纜或具有較高電容的夾具時，請使用 4201 或4211-SMU。這些 SMU 非常適合連接 LCD 測試站、探測器、開關(guān)矩陣或任何其他大型或復雜的測試儀。現(xiàn)場可安裝版本使您無需將設備返回服務中心即可增加容量。

材料電阻率

使用集成了 SMU 的 4200A-SCS，可通過四點同軸探頭或范德堡法輕松測量電阻率。 內(nèi)含測試可自動重復執(zhí)行范德堡計算，節(jié)省您寶貴的研究時間。 10aA 的z大電流分辨率和大于 10----16 歐姆的輸入阻抗可提供更準確和精準的結(jié)果。

MOSFET 檢定

4200A-SCS 可容納所有必要的儀器，用于通過組件或晶圓測試執(zhí)行全面的 MOS 設備檢定。 內(nèi)含測試和項目可以解決 MOSCap 的氧化物厚度、門限電壓、摻雜濃度、移動離子濃度等問題。 只需觸摸一個儀器盒中的按鈕，即可運行所有這些測試。