鍍層膜厚儀在制造、品質(zhì)檢測、產(chǎn)品保障等領(lǐng)域中有著重要的應(yīng)用,因為它可以提高材料表面的質(zhì)量,并最終影響產(chǎn)品的性能、采取相應(yīng)的預(yù)防措施。
鍍層膜厚儀
鍍層膜厚儀是使用在材料表面檢測膜層厚度和復(fù)合材料的厚度的儀器。它利用一種叫做“干涉測量"技術(shù)的原理進(jìn)行測量。當(dāng)光線照射在材料表面時,一部分光會反射回來,一部分會穿過膜層并被底部反射。反射光線之間的差距將導(dǎo)致干涉現(xiàn)象。如果我們知道涂層材料的折射率,我們就可以計算出膜層厚度的值,從而確定膜層是否符合要求。
鍍層膜厚儀 配置及技術(shù)指標(biāo):
1. X 射線管:高穩(wěn)定性 X 光光管,微焦點 X 射線管、Mo (鉬) 靶
鈹窗口, 陽極焦斑尺寸 75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。
50kV,1mA。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供良好性能。
2. 探測器:SDD 探測器(可選Si-Pin)
能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
3. 濾光片/可選
初級濾光片:Al濾光片,自動切換
7個準(zhǔn)直器:客戶可選準(zhǔn)直器尺寸或定制特殊尺寸準(zhǔn)直器。
鍍層膜厚儀 使用特點:
1. 非接觸式測量,可以在不接觸目標(biāo)表面的情況下進(jìn)行測量,避免了對材料表面的污染或損傷。
2. 多種光學(xué)方法可以提供高精度和穩(wěn)定的結(jié)果,測量精度可以達(dá)到micro1級。
3. 適用范圍廣,可以用于測量非金屬材料、有機(jī)材料和涂層材料的厚度。
4. 操作相對簡單,只需要進(jìn)行一些簡單的校準(zhǔn)和設(shè)置就能完成測量工作。
5. 實時監(jiān)控:一些高級模型的鍍層膜厚儀可以實時地監(jiān)控涂層的厚度變化,以便在必要時進(jìn)行調(diào)整。
應(yīng)用:
1. 金屬制造業(yè):金屬制品中的涂層和貼附層的厚度可通過鍍層膜厚儀進(jìn)行測量來保證其質(zhì)量滿足要求。
2. 電子科技:半導(dǎo)體器件、微電子器件、薄膜太陽能電池等電子設(shè)備需要在生產(chǎn)過程中進(jìn)行涂層和膜層的測量以保證其質(zhì)量。
3. 耐用性測試:可用于檢測汽車漆層的耐久性、涂層的防腐蝕性能和其他工業(yè)涂層的性能。
4. 質(zhì)量控制:通過實時監(jiān)控涂層和膜層的厚度可以保證其質(zhì)量一直處于最佳狀態(tài)。
5. 環(huán)境監(jiān)測:可以用于測量和監(jiān)測大氣、水、土壤和生物組織等環(huán)境中的化學(xué)物質(zhì)的厚度。