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產(chǎn)品類型：能量色散X熒光光譜分析設(shè)備 

產(chǎn)品名稱：鍍層厚度測試儀

型   號：iEDX-150WT

生產(chǎn)商：韓國ISP公司

亞太地區(qū)戰(zhàn)略合作伙伴：廣州鴻熙電子科技有限公司

產(chǎn)品圖片：

膜厚測試儀 iEDX-150WT

產(chǎn)品優(yōu)勢及特征

（一）產(chǎn)品優(yōu)勢

• 1. 鍍層檢測，最多鍍層檢測可達(dá)5層，精度及穩(wěn)定性高（見以下產(chǎn)品特征詳述）。
• 2. 平臺尺寸：620*525mm，樣品移動距離可達(dá)220*220*10mm。（固定臺可選）
• 3. 激光定位和自動多點測量功能。
• 4. 可檢測固體、粉末狀態(tài)材料。
• 5. 運行及維護(hù)成本低、無易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低。
• 6. 可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性，半定量分析。
• 7. 操作簡單、易學(xué)易懂、精準(zhǔn)無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性，快速出檢測結(jié)果。
• 8. 可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
• 9. 軟件*升級。
• 10. 無損檢測，一次性購買標(biāo)樣可重復(fù)使用。
• 11. 使用安心無憂，售后服務(wù)響應(yīng)時間24H以內(nèi)，提供保姆式服務(wù)。
• 12. 可以遠(yuǎn)程操作，解決客戶使用中的后顧之憂。
• 13. 可進(jìn)行RoHS檢測（選配功能），測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬，測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。亦可對成分進(jìn)行分析。
• （二）產(chǎn)品特征
• 1. 高性能高精度X熒光光譜儀（XRF）
• 2. 計算機(jī)/ MCA(多通道分析儀)
• 2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器）。
• 3. Multi Ray. 運用基本參數(shù)（FP）軟件，通過簡單的三步進(jìn)行無標(biāo)樣標(biāo)定，使用基礎(chǔ)參數(shù)計算方法，對樣品進(jìn)行精確的鍍層厚度分析。
• 可以增加RoHS檢測功能。
• 4. MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進(jìn)行鍍層厚度及全元素分析
• 勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
• 吸收模式50987.1 DIN / ISO 3497-A2
• 線性模式進(jìn)行薄鍍層厚度測量
• 相對（比）模式 無焦點測量DIN 50987.3.3/ ISO 3497
• 多鍍層厚度同時測量
• 5. 測試能力（基本配置：PIN探測器+0.3準(zhǔn)直器）
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•    當(dāng)化金厚度在2u〞-5u〞時，測量時間為40S
•    準(zhǔn)確度規(guī)格±5% 
•    精確度規(guī)格<5%（COV變動率）
•  
•    當(dāng)化金厚度>5u〞時，測量時間為40S
•    準(zhǔn)確度規(guī)格±5%
•    精確度規(guī)格<5%（COV變動率）
•  
•    當(dāng)化銀厚度在5u〞-15u〞時，測量時間為40S
•    準(zhǔn)確度規(guī)格±8%
•       精確度規(guī)格<7%（COV變動率）
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•    測化錫時，測量時間為40S
•    準(zhǔn)確度規(guī)格±8%
•    精確度規(guī)格<6%（COV變動率）
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•       準(zhǔn)確度公式：準(zhǔn)確度百分比=（測試10次的平均值-真值）/真值**
•    精確度COV公式： （S/10次平均值）**
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• 6. Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統(tǒng)
• 7. 完整的統(tǒng)計函數(shù)均值、 標(biāo)準(zhǔn)差、 低/高讀數(shù)，趨勢線，Cp 和 Cpk 因素等
• 8. 自動移動平臺，用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進(jìn)行自動樣品測量。*測量點數(shù)量 =每9999 每個階段文件。每個階段的文件有最多25 個不同應(yīng)用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含*統(tǒng)計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準(zhǔn)樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。
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• 產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說明
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• 測量原理：能量色散X射線分析	樣品類型：固體/粉末
  X射線光管：50KV，1mA	過濾器：5過濾器自動轉(zhuǎn)換
  檢測系統(tǒng)：Pin探測器(可選SDD)	能量分辨率：159eV（SDD:125eV）
  檢測元素范圍：Al (13) ~ U(92)	準(zhǔn)直器孔徑：0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選)
  應(yīng)用程序語言：韓／英／中	分析方法：FP/校準(zhǔn)曲線，吸收，熒光
  儀器尺寸：840*613*385mm	樣品移動距離：220*220*10 mm（自動臺）

•  
• 1. X射線管：高穩(wěn)定性X光光管，使用壽命（工作時間>18,000小時）
• 微焦點X射線管、Mo (鉬)靶
• 鈹窗口， 陽極焦斑尺寸75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。
• 50kV，1mA。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供*性能。
• 2. 探測器：SDD 探測器（可選Si-Pin）
• 能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）
• 3. 濾光片/可選
• 初級濾光片：Al濾光片，自動切換
• 7個準(zhǔn)直器：客戶可選準(zhǔn)直器尺寸或定制特殊尺寸準(zhǔn)直器。
• (0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )
• 4. 平臺：軟件程序控制步進(jìn)式電機(jī)驅(qū)動X-Y軸移動大樣品平臺。
  激光定位、簡易荷載*負(fù)載量為5公斤
  軟件控制程序進(jìn)行持續(xù)性自動測量
• 5. 樣品定位：顯示屏上顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能
• 6. 分析譜線：
• - 2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換）
• - 基點改正（基線本底校正）
• - 密度校正
• - Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動顯示
• 7．視頻系統(tǒng)：高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)
• - 觀察范圍：3mm x 3mm
• - 放大倍數(shù)：40X
• - 照明方法：上照式                 
• - 軟件控制取得高真圖像
• 8. 計算機(jī)、打印機(jī)（贈送）
• 1） 含計算機(jī)、顯示器、打印機(jī)、鍵盤、鼠標(biāo)
• 2） 含Win 7/Win 10系統(tǒng)。
• 3） Multi-Ray鍍層分析軟件
• 注：設(shè)備需要配備穩(wěn)壓器，需另計。