供貨周期 |
現(xiàn)貨 |
規(guī)格 |
1μm |
貨號 |
HxCu/xx |
應用領域 |
環(huán)保,化工,電子 |
主要用途 |
校準膜厚測試儀,建立標準測試檔案 |
標稱值 |
5% |
測試精度 |
0.001μm |
品牌 |
CALMETRICS |
鍍層標準片是表面涂裝工業(yè)中的一部分,它對于確保產(chǎn)品質(zhì)量、提升生產(chǎn)效率以及降低生產(chǎn)成本都具有重要意義。通過使用鍍層標準片,企業(yè)可以更好地控制其涂裝工藝,以滿足客戶的需求和期望。
鍍層標準片是一種廣泛應用于表面涂裝工業(yè)領域的標準化工具,以其穩(wěn)定性、精確度和可重復性而聞名。它被廣泛用于質(zhì)量控制、品質(zhì)評估和涂裝工藝改進等方面,是確保涂裝質(zhì)量得到保證的重要工具。
鍍層標準片專業(yè)用于測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行標準化校準。在生產(chǎn)過程中,產(chǎn)品表面的涂層可能會經(jīng)過多次涂裝和烘干,這可能導致涂層厚度不足或太厚、顏色偏差等問題。使用鍍層標準片,可以幫助工人檢測這些問題,并調(diào)整涂裝參數(shù)以達到理想的質(zhì)量標準。此外,它還可以用于確認涂層的附著力、硬度和抗腐蝕性等物理性能。
它是用來為膜厚測試儀建立標準檔案的,同時也是檢驗和校準膜厚測試儀測試數(shù)據(jù)是否準確的為一標準。它屬于易損易耗件,但是其的使用壽命卻與操作方法及存放環(huán)境息息相關,若操作得當,小心保護且存放在干燥密封的皿器內(nèi),那么可大大延長其的使用時間。膜厚標準片是膜厚測試儀(X射線鍍層測厚儀)*的。
X射線光譜儀膜厚標準片銅 Cu 1μm 實物圖片:
美國Calmetrics公司專業(yè)生產(chǎn)X射線熒光鍍層薄膜標準件及元素含量標準件,提供對標準件的校準服務,公司通過ISO/IEC 17025認證。公司提供所有證書符合NIST(National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術研究院)標準或ANSI(American National Standards Institute美國國家標準學會)標準。其生產(chǎn)的標準片質(zhì)量精良,精度高、穩(wěn)定性好。
Calmetrics鍍層標準片適用于費希爾Fischer、韓國ISP、日立Hitachi(包括:牛津儀器Oxford(CMI)、精工Seiko)熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、島津、電測、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠牌的測厚儀。
X射線測厚儀鍍層標準片一般分為單鍍層片,雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。如:單鍍層:Au/xx,雙鍍層:Au/Ni/xx,三鍍層:Au/Pd/Ni/xx,合金鍍層:Sn-Pb/xx,合金鍍層:Ni-P/xx。
鍍層標準片適用于X射線類儀器的標準。市面上絕大多部分的手持式熒光儀的厚度標準件都來自于美國Calmetrics公司。
專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線,之后以此標準曲線來測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。
對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。