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局部放電測(cè)試電路的三種基本接法及優(yōu)缺點(diǎn)
閱讀：1191 發(fā)布時(shí)間：2019-10-11(1)標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)電路，又稱并聯(lián)法。適應(yīng)于必須接地的試品。
其缺點(diǎn)是高壓引線對(duì)地雜散電容并聯(lián)在 CX上，會(huì)降低測(cè)試靈敏度。
(2)串聯(lián)法，其要求試品低壓端對(duì)地浮置。
其優(yōu)點(diǎn)是變壓器入口電容、高壓線對(duì)地雜散電容與耦合電容CK并聯(lián)，有利于提高試驗(yàn)靈敏度;缺點(diǎn)是試樣損壞時(shí)會(huì)損壞輸入單元。
(3)平衡法試驗(yàn)電路：要求兩個(gè)試品相接近，至少電容量為同一數(shù)量級(jí)。
局部放電測(cè)試儀
其優(yōu)點(diǎn)是外干擾強(qiáng)烈的情況下，可取得較好抑制干擾的效果，并可消除變壓器雜散電容的影響，而且可做大電容試驗(yàn);缺點(diǎn)是須要兩個(gè)相似的試品，且當(dāng)產(chǎn)生放電時(shí)，需設(shè)法判別是哪個(gè)試品放電。
由于現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)條件的限制(找到兩個(gè)相似的試品且要保證一個(gè)試品無(wú)放電不太容易)，所以在現(xiàn)場(chǎng)平衡法比較難實(shí)現(xiàn)，另外，由于采用串聯(lián)法時(shí)，如果試品擊穿，將會(huì)對(duì)設(shè)備造成比較大的損害，所以出于對(duì)設(shè)備保護(hù)的想法，在現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)時(shí)一般采用并聯(lián)法。
高壓濾波器可以防止在測(cè)試過(guò)程中試品擊穿而損壞其他設(shè)備，阻塞放電電流進(jìn)入試驗(yàn)變壓器，并且可以抑制從高壓電源進(jìn)入的諧波干擾，隔離濾波器是將電源的干擾和整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)分開(kāi)，降低整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的背景干擾。