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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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KMP系統(tǒng)允許通過附加的光學(xué)成像系統(tǒng)間接測量LID（發(fā)光強(qiáng)度分布）。該光學(xué)成像系統(tǒng)縮短了光源的測光極限距離，因為光投射在光學(xué)系統(tǒng)的聚焦平面上。在聚焦面的位置安裝了反射墻。
所有平行發(fā)射的光束都在一點上成像。這發(fā)生在整個平行梁在相同的角度。因此，反射壁上的每個測量點可與光源的觀察角相關(guān)聯(lián)。
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
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如果已知反射壁的空間分辨率以及光源(球面坐標(biāo))和反射壁(攝像機(jī)坐標(biāo))之間的幾何和光度關(guān)系，那么就可以從亮度圖像中計算出發(fā)光強(qiáng)度的分布。如果已知反射壁的空間分辨率以及光源(球面坐標(biāo))和反射壁(攝像機(jī)坐標(biāo))之間的幾何和光度關(guān)系，那么就可以從亮度圖像中計算出發(fā)光強(qiáng)度的分布。
如果已知反射壁的空間分辨率以及光源(球面坐標(biāo))和反射壁(攝像機(jī)坐標(biāo))之間的幾何和光度關(guān)系，那么就可以從亮度圖像中計算出發(fā)光強(qiáng)度的分布。
瑞軒電子科技（上海）有限公司
是全國儀器儀表行業(yè)“產(chǎn)品研發(fā)、銷售、技術(shù)培訓(xùn)、設(shè)備維修”為一體供應(yīng)商
公司主要經(jīng)營：
一、傳感與測量儀器 （GE druck, GE Panametrics,GE Bently,Wika,HBM,Tektronix,BEAMEX,SIKA,E+E等進(jìn)口品牌)
二、氣體檢測儀（美國華瑞RAE,梅思安MSA，德爾格Draeger等進(jìn)口品牌)
三、實驗室儀器（德國IKA，美國奧豪斯，上海一恒，中科中佳，上海安亭，湖南湘儀等品牌）
四、水質(zhì)檢測儀（美國哈希hach,安捷倫等品牌）
五、氣動液壓元件（派克Parker,阿托斯Atos,力士樂Rexroth,哈威Hawe等品牌）
六、無損檢測儀（德國KK，日本新寶，中國臺灣泰仕，德國卡爾德意志等品牌）