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日本INTECS目視檢查用鹵素光源裝置UIH-1H拋光晶片霧度照明裝置，用于目測
日本INTECS鹵素燈光源裝置UIH-1C用于目視檢查的超亮照明裝置將高強度的光照射到物體（* 1）時，會發(fā)生傾斜現象，并且可以輕松地從視覺上確認表面上的劃痕和...
日本INTECS鹵素光源裝置鹵素燈UIH-2D超高輝度検査用照明裝置（ＵＩＨ－２Ｄ型）一般的に半導體ウエハーやマスクガラス等の目視検査で、傷やごみ、內部異物や気...
UIH-3D鹵素燈光源裝置日本INTECS一種用于無損測量半導體晶片橫截面形狀尺寸的設備。您可以測量晶圓邊緣的尺寸，角度和半徑
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