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美國GE/MSEB4|MSEB2S雙晶保護(hù)膜探頭應(yīng)用
閱讀:646 發(fā)布時間:2021-3-28美國GE/MSEB4|MSEB2S雙晶保護(hù)膜探頭應(yīng)用|京海興樂科技(北京)有限公司現(xiàn)貨提供
應(yīng)用
用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機器零件、殼體
特點
縱波單晶探頭
適合DGS缺陷評判
性能參數(shù)誤差小,適合高精度檢測
可更換保護(hù)膜,保護(hù)探頭不被磨損
柔性保護(hù)膜,即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合
合金壓鑄殼體,堅固耐用
用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊(定制產(chǎn)品)
系列 | 型號 | 頻率 BS | 1 | 側(cè)裝 | 24mm | ES45 |
1 | ||||||
2 | ||||||
2.25 | ||||||
4 | ||||||
5 | ||||||
1 | 頂裝 | |||||
2 | ||||||
4 | ||||||
5 |
(MHZ)
接口方向
帶寬
晶片直徑
接口類型
保護(hù)膜
B1S-EN
25
Lemo 01
B1S
B2S
B2.25SE
B4S
B5S
B1S-O
B2S-O
B4S-O
B5S-O