CCD全譜火花直讀光譜儀,廠家直銷方便節(jié)能的樣品激發(fā)臺(tái)
??開(kāi)放式樣品激發(fā)臺(tái)，適于分析不同幾何形狀的大/小樣品
??氬氣氣路優(yōu)化設(shè)計(jì)，優(yōu)激發(fā)效果
??氬氣節(jié)約模式，有效降低氬氣用量
??安裝與維護(hù)簡(jiǎn)單便捷

?穩(wěn)定*的光學(xué)系統(tǒng)
??帕型-龍格光學(xué)結(jié)構(gòu)，多個(gè)高性能的CCD探測(cè)器
??可實(shí)時(shí)監(jiān)控的恒溫光室，光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定性

?*的雙光室設(shè)計(jì)
??*的雙光室（紫外+可見(jiàn)）設(shè)計(jì)，長(zhǎng)短波元素均可達(dá)到分析性能
??獨(dú)立的紫外光學(xué)系統(tǒng)使儀器對(duì)碳、磷、硫、氮等短波元素的分析更

CCD全譜火花直讀光譜儀,廠家直銷技術(shù)性能及參數(shù)
1. 分光室設(shè)計(jì)
● 帕邢-龍格結(jié)構(gòu)羅蘭圓直徑350mm
● 波長(zhǎng)范圍140 – 800nm
● 像素分辨率10pm
● 恒溫34℃±0.5℃
● 特殊材質(zhì)鑄造，光室形變小
2. 凹面光柵
● 刻線密度3600l/mm
● 光譜線色散率：1.2 nm/mm
3. 檢測(cè)器
● 高性能線陣CCD
4. 分析時(shí)間
● 依樣品種類而不同，一般少于30秒
5. 激發(fā)光源
● 全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)
● 高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)
● 頻率100-1000Hz
● 電流1-80A
6. 激發(fā)臺(tái)
● 4mm樣品臺(tái)分析間隙
● 噴射電極技術(shù)
● 無(wú)待機(jī)流量，低氬氣消耗
7. 尺寸和重量
● 高450mm 長(zhǎng)750 mm 寬800 mm
● 85 kg
8. 功率
● 功率1500W
● 待機(jī)功率70W
工作條件
● 工作溫度：15-30℃
● 相對(duì)濕度：≤70%
● 電 源：220±5V，電流20A，單相50Hz，接地電阻＜1Ω
輔助設(shè)備
● 高純氬氣——純度99.999%以上
● 交流參數(shù)穩(wěn)壓電源——1KVA
● 光譜磨樣機(jī)——用于鋼鐵、鎳合金等樣品
● 小型車床——用于鋁、銅、鋅、鎂合金等樣品
● 空調(diào)——依實(shí)驗(yàn)室面積配置匹配功率
技術(shù)優(yōu)勢(shì)
à 全譜檢測(cè)測(cè)試各種金屬和元素
基于CCD檢測(cè)器和光路技術(shù)，測(cè)試各種金屬中元素的譜線，靈活低成本實(shí)現(xiàn)更多基體、元素的測(cè)試。
à 的測(cè)試方案
測(cè)試技術(shù)服務(wù)的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測(cè)試方案。
測(cè)試方案采用針對(duì)材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見(jiàn)測(cè)試需求。
分析程序由原廠采用、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)，經(jīng)儀器軟件擬合、校正。
用戶只需采用原廠配置少量標(biāo)準(zhǔn)化樣品即可完成日常維護(hù)，不需購(gòu)買(mǎi)制作分析程序的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
à 供應(yīng)商提供核心部件
? 光譜色散元件——光柵由德國(guó)Zeiss制造，的光譜分辨能力
? 光譜檢測(cè)器——光電倍增管由日本Toshiba制造，確保譜線檢測(cè)靈敏、低噪聲
? 光學(xué)鏡片——德國(guó)Zeiss制造，光纖——美國(guó)Agilent制造
à 的光室恒溫系統(tǒng)
光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和高效隔溫層，有效光室內(nèi)恒溫。
由此抑制溫度變化下機(jī)械件尺寸微弱變化導(dǎo)致的光路漂移。同時(shí)光電器件工作在恒溫環(huán)境有助于性能的穩(wěn)定。
測(cè)試示例
樣品取樣
  樣品取樣可分為熔體取樣和成品取樣。熔體取樣需將金屬液體注入模具中凝固成塊狀樣品。成品取樣需考慮尺寸、形狀來(lái)考慮是否需切割樣品。
參考標(biāo)準(zhǔn)
  《GB/T 20066-2006 鋼和鐵 化學(xué)成分測(cè)定用試樣的取樣和制樣方法》
  《GB/T 5678-2013鑄造合金光譜分析取樣方法》
樣品預(yù)處理
  高硬度金屬（如鋼鐵、鎳合金）使用光譜磨樣機(jī)打磨樣品的測(cè)試面，低硬度金屬（如鋁合金、銅合金、鋅合金）使用成床車削樣品的測(cè)試面，使樣品表面平整、光潔、劃痕*。
樣品測(cè)試
將樣品放置于樣品激發(fā)臺(tái)上，操作計(jì)算機(jī)軟件啟動(dòng)儀器測(cè)試過(guò)程，測(cè)試完成可同時(shí)顯示所有配置元素。單次測(cè)試過(guò)程少于40秒，一般建議同一樣品測(cè)試三次。
測(cè)試數(shù)據(jù)保存
  測(cè)試結(jié)果可保存于儀器軟件數(shù)據(jù)庫(kù)或直接打印。