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X-ray鍍層測厚儀_天瑞儀器 介紹
早期，X熒光鍍層測厚儀基本被國外廠家（德國費希爾，日本精工，牛津等）壟斷，用戶可以選擇的廠家比較少。天瑞儀器1992年開始做光譜儀，是一家生產(chǎn)光譜儀的廠家，在X熒光鍍層檢測方面，*打破國外的技術(shù)壟斷。天瑞Thick800A內(nèi)置了天瑞研發(fā)的信噪比增強器與數(shù)字多道分析器，在測試精度可以與進口設(shè)備PK過程中不落下風(fēng)。超低的檢出限使儀器的性能在與進口設(shè)備（費希爾，精工，牛津等）PK過程中不落下風(fēng)；儀器使用方便，測試快捷，可以測試鍍金、鍍鎳、鍍銅、鍍鉻、鎳鋅、鍍銀、鍍鈀等金屬鍍層厚度。
X-ray鍍層測厚儀_天瑞儀器 鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法：1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-20052、X-ray法（X射線法）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-20053、庫侖法，此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005測量標(biāo)準(zhǔn)1國標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法 2.美國標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
天瑞Thick800A具如下特點：1. 高精度移動平臺可定位測試點，重復(fù)定位精度小于0.005mm；2. 采用高度定位激光，可自動定位測試高度滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求；3. φ0.2mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求；4. 定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊；5. 鼠標(biāo)可控制移動平臺，鼠標(biāo)的位置就是被測點；6. 高分辨率探頭使分析結(jié)果更加，微小測試點更；7. X射線鍍層測厚儀廠家優(yōu)勢在于滿足客戶要求的情況下，價格更優(yōu)惠、售后服務(wù)更方便，維護成本更低。 測試實例鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進行定位測試，其測試位置如圖。
