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          X射線鍍層測厚儀

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          • X射線鍍層測厚儀
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          參考價 面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 型號
          • 品牌 SKYRAY/天瑞儀器
          • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
          • 所在地 蘇州市
          在線詢價 收藏產(chǎn)品

          更新時間:2023-11-08 17:50:04瀏覽次數(shù):1414

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          產(chǎn)品簡介

          X射線鍍層測厚儀 是對材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測量的儀器,測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等。測試方法主要分為:電渦流法、磁感應(yīng)法、金相法、庫侖法以及X射線熒光法。今天,我們主要為您講解后三種方法的區(qū)別以及關(guān)系

          詳細(xì)介紹

          X射線鍍層測厚儀 
          測量原理比較測試方法  測試原理  
          金相法  利用金相顯微鏡放大橫截面的原理,對鍍層厚度放大,進(jìn)行觀測及測量。  
          庫侖法  利用適當(dāng)?shù)碾娊庖宏枠O溶解限定面積的覆蓋層,根據(jù)所耗的電量計算出覆蓋層的厚度。  
          X射線光譜法  利用X射線與基體和覆蓋層的相互作用產(chǎn)生的離散波長和能量的二次輻射強(qiáng)度與覆蓋層單位面積質(zhì)量之間存在一定的關(guān)系。根據(jù)校正標(biāo)準(zhǔn)塊提供的單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正這一關(guān)系,給出覆蓋層線性厚度。  
           2、標(biāo)準(zhǔn)、要求、儀器的選型測試方法  參考標(biāo)準(zhǔn)  樣品要求  儀器  
          金相法  ASTM B487;GB/T 6462   鍍層厚度不小于1um  切割機(jī)、真空浸漬儀、研磨機(jī)、金相顯微鏡  
          庫侖法  ASTM B764;GB/T4955   平面不小于5mm2 電解測厚儀  
          X射線光譜法  ASTM B568; GB/T16921  測試面積大于0.05×0.25mm  X-ray鍍層測厚儀 
           3、測試因素比較
           金相法  庫侖法  X射線光譜法  
          測試范圍  >1um  0~35um  重金屬0~10um 、其它0~35um  
          測試精度  高  稍差  高  
          制樣  制樣復(fù)雜  配置不同電解液  簡單  
          工件損傷  有損  有損  無損  
          操作方法  操作復(fù)雜  復(fù)雜  簡單  
          測試效率  非常低  低  高  
          層數(shù)  不限  單層和Cr/Ni/Cu復(fù)合鍍層  多5層  
          鍍層預(yù)知  不需要  需要  需要  
          合金鍍層厚度  可測  不可測  可測  
          合金成分  EDS聯(lián)用  不可測  可測  
          溶液成分測試  不可測  不可測  可測  
          人為因素  影響大  影響大  影響小  
          價格  較高  低  高  
          X射線鍍層測厚儀 應(yīng)用X熒光法的優(yōu)勢1.x射線電鍍層測厚儀樣品處理方法簡單或無前處理2.可快速對樣品做定性分析3.對樣品可做半定量或準(zhǔn)定量分析4.譜線峰背比高,分析靈敏度高5.不破壞試樣,無損分析6.試樣形態(tài)多樣化(固體、液體、粉末等)7.設(shè)備可靠、維修、維護(hù)簡單8.快速:一般測量一個樣品只需要1~3分鐘,樣品可不處理或進(jìn)行簡單處理。9.無損:物理測量,不改變樣品性質(zhì)10.:對樣品可以分析11.直觀:直觀的分析譜圖,元素分布一幕了然,定性分析速度快12.環(huán)保:檢測過程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水 5.X熒光鍍層測厚儀Thick800A儀器介紹Thick800A是天瑞儀器銷量的鍍層測厚儀;儀器采用上照式結(jié)構(gòu),測試,軟件界面簡潔,測試樣品用時40S,售后服務(wù)可靠及時。儀器性能特點(diǎn)1.滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求2.φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求,可以對同一鍍件不同部位測試厚度3.高精度移動平臺可定位測試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm4.采用高度定位激光,可自動定位測試高度5.定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對齊6.鼠標(biāo)可控制移動平臺,鼠標(biāo)的位置就是被測點(diǎn)7.高分辨率探頭使分析結(jié)果更加8.良好的射線屏蔽作用9.測試口高度敏感性傳感器保護(hù) 儀器參數(shù)規(guī)格1   分析元素范圍:S-U2   同時可分析多達(dá)5層以上鍍層3   分析厚度檢出限達(dá)0.005μm4   多次測量重復(fù)性可達(dá)0.01μm5   定位精度:0.1mm6   測量時間:30s-300s7   計數(shù)率:1300-8000cps8   Z軸升降范圍:0-140mm9   X/Y平臺可移動行程:50mm(W)×50mm(D) 儀器軟件優(yōu)勢:                                     儀器采用天瑞軟件研發(fā)團(tuán)隊研發(fā)的能量色散X熒光FpThick軟件,的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應(yīng)用軟件,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作。譜圖區(qū)域采用動態(tài)模式,測試時元素觀察更直觀。軟件具有多種測試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式自由添加,內(nèi)置強(qiáng)度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。 測試實例鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件,其鎳鍍層在保護(hù)銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
          以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度,七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進(jìn)行定位測試,其測試位置如圖。
                  
                                                                             銅鍍鎳件X射線熒光測試譜圖 樣 品 名 成分Ni(%) 鍍層Ni(um) 
          吊扣 100 19.321 
          吊扣2# 100 19.665 
          吊扣3# 100 18.846 
          吊扣4# 100 19.302 
          吊扣5# 100 18.971 
          吊扣6# 100 19.031 
          吊扣7# 100 19.146 
          平均值 

             

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