鍍層測(cè)厚儀THICK800A 工作原理
從X熒光分析測(cè)量原理可以看出鍍層被激發(fā)區(qū)的特征X射線的強(qiáng)度與鍍層和涂層元素含量多少成正比。在一定被激發(fā)區(qū)的測(cè)量區(qū)域內(nèi)，鍍層和涂層元素百分比含量是固定的，因而所測(cè)得的X熒光強(qiáng)度與該測(cè)量范圍鍍層和涂層的厚度成一定正比例關(guān)系。在一定的厚度范圍內(nèi)，鍍層和涂層的厚度與激發(fā)區(qū)的特征X射線的強(qiáng)度成正比例關(guān)系，因此只要測(cè)量該范圍內(nèi)的X熒光強(qiáng)度值，即可算出鍍層和涂層的厚度。

 鍍層測(cè)厚儀THICK800A 應(yīng)用領(lǐng)域
鐵基----□Fe/Zn,□Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，         
□Fe/Cu/Ni/Cr， □Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag
銅基-----□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr
鋅基-----□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au
鎂鋁合金----□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au
塑膠基體----plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr
應(yīng)用優(yōu)勢(shì)
1   快速：一般測(cè)量一個(gè)樣品只需要30S～300S，樣品可不處理或進(jìn)行簡(jiǎn)單處理；
2   無(wú)損：物理測(cè)量，不改變樣品性質(zhì)；
3   ：對(duì)樣品可以分析；
4   直觀：直觀的分析譜圖，元素分布一幕了然，定性分析速度快；
5   環(huán)保：檢測(cè)過(guò)程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水。
儀器配置                                            
1    硬件：主機(jī)壹臺(tái)，含下列主要部件： 
(1)   X光管                 (2) 半導(dǎo)體探測(cè)器
(3) 放大電路                (4) 高精度樣品移動(dòng)平臺(tái)
(5) 高清晰攝像頭            (6) 高壓系統(tǒng)
(7) 上照、開(kāi)放式樣品腔      (8）雙激光定位
(9) 玻璃屏蔽罩
2   軟件：天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0
3   計(jì)算機(jī)、打印機(jī)各一臺(tái)
計(jì)算機(jī)（品牌，P4，液晶顯示屏）、打印機(jī)（佳能，彩色噴墨打印機(jī)）
4   資料：使用說(shuō)明書（包括軟件操作說(shuō)明書和硬件使用說(shuō)明書）、出廠檢驗(yàn)合格證明、裝箱單、保修單及其它應(yīng)提供資料各一份。
5   標(biāo)準(zhǔn)附件
準(zhǔn)直孔：0.1X1.0mm（已內(nèi)置于儀器中）
參數(shù)規(guī)格
1   分析元素范圍：S-U
2   同時(shí)可分析多達(dá)5層以上鍍層
3   分析厚度檢出限達(dá)0.005μm
4   多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.01μm
5   定位精度：0.1mm
6   測(cè)量時(shí)間：30s-300s
7   計(jì)數(shù)率：1300-8000cps
8   Z軸升降范圍：0-140mm
9   X/Y平臺(tái)可移動(dòng)行程：50mm(W)×50mm(D)
性能特點(diǎn)
1  滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求；
2 φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求；
3 高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm；
4 采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度；
5 定位激光定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊；
6 鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)的位置就是被測(cè)點(diǎn)；
7 高分辨率探頭使分析結(jié)果更加；
8 良好的射線屏蔽作用；
9 測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)；
安裝要求：
1   環(huán)境溫度要求：15℃-30℃
2   環(huán)境相對(duì)濕度：<70%
3   工作電源：交流220±5V
4   周圍不能有強(qiáng)電磁干擾。
質(zhì)量
1. 乙方對(duì)所出售本合同所規(guī)定的儀器進(jìn)行終身維修；
2. 軟件免費(fèi)升級(jí)：如有軟件升級(jí)，乙方將免費(fèi)提供軟件升級(jí)，不再收取升級(jí)費(fèi)用；
3. 保修條款
3.1. 儀器設(shè)備自驗(yàn)收合格之日起免費(fèi)保修1年；
3.2. 免費(fèi)保修期內(nèi)，維修相關(guān)費(fèi)用全免；
Thick800A操作說(shuō)明書：
1）          鼠標(biāo)雙擊桌面上的“FpThick”軟件圖標(biāo)：用戶使用“Administrator”，密碼：skyray
2）          進(jìn)入測(cè)試軟件后，選擇“測(cè)試條件”
“打開(kāi)”彈出以下：“確定”，即測(cè)試條件確定
3）          選擇“工作曲線”，如下圖：
選擇所需要的工作曲線，此處以Ni/Fe曲線為例，如下圖：
完成以上步驟后，工作曲線即已經(jīng)選定4）          放入“Ag片”對(duì)儀器進(jìn)行初始化

放好Ag片后初始化按鈕，初始化完成后，（峰通道為1105，計(jì)數(shù)率達(dá)到一定的數(shù)，如300以上）。5）          放入需要測(cè)試的樣品，“開(kāi)始”鍵，輸入樣品名稱后“確定”測(cè)試完成后即可保持，的位置可以在桌面的“分析”快捷方式中的“鍍層”中找到。注意：測(cè)試鍍層樣品時(shí)，必須先要確定是什么鍍層、選擇好對(duì)應(yīng)的工作曲線測(cè)試。