早期,X熒光鍍層測厚儀基本被國外廠家(德國費希爾,日本精工,牛津等)壟斷,用戶可以選擇的廠家比較少。天瑞儀器92年開始做光譜儀,是一家生產(chǎn)光譜儀的廠家,在X熒光鍍層檢測方面,*打破國外的技術壟斷。天瑞Thick800A內(nèi)置了天瑞研發(fā)的信噪比增強器與數(shù)字多道分析器,在測試精度可以與進口設備PK過程中不落下風。超低的檢出限使儀器的性能在與進口設
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
天瑞Thick800A鍍層測厚儀介紹
鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法:
1、光學顯微鏡法。適用標準為:GB/T6462-2005
2、X-ray法(X射線法)。適用標準為:GB/T16921-2005
3、庫侖法,此法一般為仲裁方法。適用標準為:GB/T4955-2005
天瑞Thick800A鍍層測厚儀介紹 測量標準
1國標GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法
2.美國標準A754/A754M-08
Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
天瑞Thick800A具如下特點:
1. 高精度移動平臺可定位測試點,重復定位精度小于0.005mm;
2. 采用高度定位激光,可自動定位測試高度滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求;
3. φ0.2mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求;
4. 定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊;
5. 鼠標可控制移動平臺,鼠標的位置就是被測點;
6. 高分辨率探頭使分析結果更加,微小測試點更;
7. X射線鍍層測厚儀廠家優(yōu)勢在于滿足客戶要求的情況下,價格更優(yōu)惠、售后服務更方便,維護成本更低。
測試實例
鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件,其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度,七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行定位測試,其測試位置如圖。
銅鍍鎳件X射線熒光測試譜圖
銅鍍鎳件測試值
結論
實驗表明,使用Thick800A 儀器對鍍件膜厚測試,結果度高,速度快(幾十秒),其測試效果*可以和顯微鏡測試法媲美。