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          目錄:上海西努光學(xué)科技有限公司>>顆粒元素分析系統(tǒng)>> CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

          CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)
          • CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)
          參考價(jià) 面議
          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          參考價(jià) 面議
          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 品牌 其他品牌
          • 型號
          • 廠商性質(zhì) 代理商
          • 所在地 上海市
          屬性

          應(yīng)用領(lǐng)域:綜合

          >

          更新時(shí)間:2024-11-22 13:18:32瀏覽次數(shù):563評價(jià)

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          CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)需要多臺設(shè)備配套:僅憑放大觀察并不能查明成分,需要使用多臺設(shè)備或委托外部分析。


          CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng):快速、精確、一鍵分析

          CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

          CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

          CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

          需要多臺設(shè)備配套:

          僅憑放大觀察并不能查明成分

          需要使用多臺設(shè)備或委托外部分析


          需要進(jìn)行預(yù)處理:

          對進(jìn)入分析設(shè)備內(nèi)的尺寸有限制,需要破壞或切斷目標(biāo)物

          需要進(jìn)行目標(biāo)物表面的導(dǎo)電性處理、分析設(shè)備內(nèi)部的真空處理


          對實(shí)驗(yàn)員素養(yǎng)要求高:

          由于分析設(shè)備具有高專業(yè)性,只有少數(shù)人會(huì)操作


          只有具備專業(yè)知識,才能根據(jù)檢測到的元素判斷物質(zhì)

          CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)



          只需一臺即可完成

          只需一臺即可快速執(zhí)行從放大觀察到元素判別   要進(jìn)行元素判別的人員可當(dāng)場進(jìn)行作業(yè)


          無需預(yù)處理

          對目標(biāo)物尺寸沒有限制,無需破壞也可直接分析

          在空氣中進(jìn)行分析,無需進(jìn)行導(dǎo)電性處理及真空處理


          輕松進(jìn)行元素判別

          使用顯微系統(tǒng)觀察的同時(shí),一鍵點(diǎn)擊即可進(jìn)行元素判別   根據(jù)內(nèi)部數(shù)據(jù)庫,瞬時(shí)推測檢測物質(zhì)


          CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

          CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

          CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

          CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)



          CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)規(guī)格參數(shù)


          型號

          CIS- LIBS






          LIBS光學(xué)模塊

          檢測原理

          激光誘導(dǎo)擊穿光譜法

          檢測性質(zhì)

          定性及半定量

          檢測能力

          %水平 (取決于元素)

          檢測環(huán)境要求

          無, 分析在大氣條件下進(jìn)行 (無, 常溫常壓條件下進(jìn)行)

          對應(yīng)元素

          CU、A

          SUS、 Fe、 L

          C、cr 、Mg、Mn  N

          T

          Y、zn 、Au等常見元素



          激光

          激光類型

          Nd :YAG (半導(dǎo)體泵浦)

          激光波長

          355nm

          單脈沖能量

          <100UJ

          脈沖寬度

          ≤1 . 5ns

          點(diǎn)規(guī)格

          15um  (typ)

          燒蝕深度

          1 - 10um (取決于材料



          光譜儀

          光譜范圍

          200至780nm

          光譜分辨率

          0 . 15nm

          信噪比

          500


          探測器

          CMOS探測器


          激光鏡頭

          鏡頭類型

          專屬規(guī)格透射型鏡頭

          鏡頭倍數(shù)

          7X

          工作距離

          18mm






          掃描光學(xué)模塊


          入射光軸

          相差觀察方法

          奧林巴斯BX53M ,  BF明場照明

          物鏡

          5X, 10X,20X,50X

          可選


          照明

          大功率數(shù)字LED, 軟件可控, 帶記憶模式

          偏光系統(tǒng)

          偏光00與偏光90o 自動(dòng)數(shù)字切換, 帶記憶模式


          數(shù)字成像

          相機(jī)型號

          DFK33UX249

          相機(jī)分辨率

          1920x1200  (2 . 3mp)

          相機(jī)靶面


          2英寸

          幀速

          48FPS


          掃描載物臺

          載物臺方向

          XYZ三軸

          行程范圍

          Xy軸125x75mm, z軸35mm

          分辨率

          0 . 1um(軟件控制)

          精度

          <5μm

          控制方式

          軟件自動(dòng)控制+遙桿細(xì)分控制


          生成報(bào)告

          生成方式

          自動(dòng)生成

          報(bào)告內(nèi)容

          單顆粒材質(zhì)專業(yè)報(bào)告

          全顆粒材質(zhì)專業(yè)報(bào)告

          電腦

          15處理器, 16G內(nèi)存, 硬盤1TB,顯示器22寸

          設(shè)備電源

          供電方式

          AC 220V50Hz

          保修期

          整機(jī)12個(gè)月

          耐環(huán)境性

          使用環(huán)境溫度

          +10至45

          使用環(huán)境濕度

          。至85%RH (無冷凝)

          重量

          系統(tǒng)

          約50KG

          外形尺寸

          寬度490mm x高度600mm x縱深840mm


          CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

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