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          TAP1500 1.5 GHz有源探頭

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          具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 型號 TAP1500
          • 品牌
          • 廠商性質(zhì) 代理商
          • 所在地 深圳市

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          更新時間:2023-11-11 10:22:24瀏覽次數(shù):974

          聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!

          產(chǎn)品簡介

          產(chǎn)地類別 進(jìn)口    
          TAP1500 1.5 GHz有源探頭用戶應(yīng)選擇具有低輸入電容指標(biāo) (~1 pF) 的探頭以大CHENG度降低探頭對電路的負(fù)載影響。

          詳細(xì)介紹

          TAP1500 1.5 GHz有源探頭Single-ended Active FET Probe provides excellent high-speed electrical and mechanical performance required for today's digital system designs.

          Key features

          • Outstanding electrical performance
            • ≥1.5 GHz probe bandwidth
            • <267 ps rise time
            • ≤1 pF input capacitance
            • 1 M? input resistance
            • -8 V to +8 V input dynamic range
            • -10 V to +10 VDC input offset range
          • Versatile mechanical performance
            • Small compact probe head for probing small geometry circuit elements
            • DUT attachment accessories enable connection to SMDs as small as 0.5 mm pitch
            • Robust design for reliability
          • Easy to use
            • Connects directly to oscilloscopes with the TekVPI™ probe interface
            • Provides automatic units scaling and readout on the oscilloscope display
            • Easy access to oscilloscope probe menu display for probe status/diagnostic information, and to control probe DC offset
            • Remote GPIB/USB probe control through the oscilloscope
          • Applications
            • High-speed Digital Systems Design
            • Component Design and Characterization
            • Manufacturing Engineering and Test
            • Educational Research
            • Signals with Voltage Swings up to 16 V

          TAP1500 1.5 GHz有源探頭 active probes for TekVPI™ probe interface

          Specifically designed for use and direct connection to oscilloscopes with the TekVPI™ probe interface, the TAP1500 Active FET probe achieves high-speed signal acquisition and measurement fidelity by solving three traditional problems:

          • Lower DUT loading effects with ≤1 pF input capacitance and 1 M? input resistance
          • Versatile DUT connectivity for attaching to small SMDs
          • Preserves instrument bandwidth at the probe tip for ≤1 GHz oscilloscopes

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