KeithleyS535參數(shù)化測(cè)試系統(tǒng)為半導(dǎo)體研發(fā)和生產(chǎn)測(cè)試應(yīng)用提供開關(guān)解決方案，其中主機(jī)可以支持多達(dá) 2,880 個(gè)通道以及專為半導(dǎo)體應(yīng)用而設(shè)計(jì)的一系列矩陣卡。

KeithleyS535參數(shù)化測(cè)試系統(tǒng)

S535 特點(diǎn)

• 在多站點(diǎn)并行或連續(xù)運(yùn)行中自動(dòng)執(zhí)行所有晶片級(jí)直流參數(shù)測(cè)試。觸摸一次探頭測(cè)試兩個(gè)或四個(gè)站點(diǎn)。
• 多達(dá) 64 根測(cè)試針：并行測(cè)試四個(gè)站點(diǎn)，每個(gè)站點(diǎn) 16 根針；并行測(cè)試兩個(gè)站點(diǎn)，每個(gè)站點(diǎn) 32 根針；連續(xù)測(cè)試一個(gè)站點(diǎn)，64 根針
• 高達(dá) 100 W 運(yùn)行：1 A 時(shí) 100 V；100 mA 時(shí) 200 V
• 在高速、多針、*自動(dòng)的測(cè)試環(huán)境中 1 fA、10 nV 分辨率
• 基于 Linux 的 Keithley 測(cè)試環(huán)境 (KTE) 系統(tǒng)軟件兼容原有 Keithley 測(cè)試系統(tǒng)、支持輕松進(jìn)行測(cè)試開發(fā)和快速執(zhí)行。
• Keithley S530 型探頭卡基礎(chǔ)設(shè)施也支持原有的 S400 應(yīng)用KeithleyS535參數(shù)化測(cè)試系統(tǒng)

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