2400型軟件仿真

2600B系列數(shù)字源表，與為吉時利2400 型數(shù)字源表源測量單元（SMU）儀表開發(fā)的測試代碼兼容。這使得基于2400型數(shù)字源 表的測試系統(tǒng)更容易地升級至2600B系列， 并使測試速度提高高達80%。此外，它還提供了從SCPI編程轉(zhuǎn)到吉時利TSP技術(shù)的過渡路徑，實施后，可以進一步縮短測試時間。
為了全面支持遺留的測試系統(tǒng)，在這個模式下，還*支持2400型源存儲清單測試序列。

第三代SMU設計，確保實現(xiàn)更快的測試時間

在早期2600系列儀器成熟的架構(gòu)基礎 上，2600B系列最XIN的源測量單元（SMU） 儀表設計從幾個方面提高了測試速度。例 如，早期的設計采用的是并聯(lián)電流量程調(diào) 節(jié)結(jié)構(gòu)，而2600 B系列采用了已申請專LI 的串聯(lián)量程調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)，這種結(jié)構(gòu)具有更快 更平滑的量程變換過程和穩(wěn)定速度更快的 輸出。

SMU-Per-Pin并行測試采用TSP與TSP-Link技術(shù)，提高測試吞吐量，并降低測試成本。

2600B系列數(shù)字源表源測量單元 （SMU）儀表設計支持對各種負載使用 兩種操作模式。在普通模式下，源測 量單元（SMU）儀表為吞吐量提供 高帶寬性能。在高電容模式下，源測 量單元（SMU）儀表使用較慢的帶寬， 為較高電容負載提供魯棒的性能。

簡化半導體元件測試、驗證與分析

可選配的ACS Basic版本軟件實現(xiàn)了客戶效率的化，使客戶可以在開發(fā)、質(zhì)量認證或故障分析中，對封裝器件進行特性分析。主要特性包括：

• 內(nèi)容豐富、易于訪問的測試庫
• 腳本編輯器，實現(xiàn)現(xiàn)有測試的快速定制
• 數(shù)據(jù)工具，便于迅速比較測試結(jié)果
• 公式工具，便于分析俘獲的曲線，并提供多種數(shù)據(jù)函數(shù)。

欲了解有關(guān)ACS Basic版本軟件的更多信息，參見ACS Basic版本數(shù)據(jù)表。

強大的軟件工具

除了基于Java的嵌入式即插即用軟 件以及可選配的ACS Basic版本軟件，免 費Test Script Builder軟件工具，可以 幫助用戶創(chuàng)建、修改、調(diào)試和存儲TSP測 試腳本。圖1給出2600B系列數(shù)字源表軟 件工具的主要特性。

2600B系列產(chǎn)品3個最XIN型號的雙通道 臺式數(shù)字源表，提供業(yè)界最JIA的價值 和性能

如果想調(diào)試設計問題，首先必須知道存在問題。每個設計工程師都要用大量的時間查找電路中的問題，如果沒有合適的調(diào)試工具，這項任務耗時長、非常麻煩。

為了滿足那些不需要YI流系統(tǒng)級自 動化能力的應用需求，吉時利對2600B系 列數(shù)字源表進行了擴展，推出3中最XIN的 高性價比臺式型號產(chǎn)品——2604B、2614B和 2634B。這些型號產(chǎn)品性能分別與2602B、 2612B和2636B相似，但它們不包括TSP Link、接觸檢查以及數(shù)字I/O能力。

完整的自動化系統(tǒng)解決方案

吉時利S500綜合測試系統(tǒng)是基于儀 器的、可高度配置的系統(tǒng)，適合器件、 晶圓或晶圓盒的半導體特性分析。S500 綜合測試系統(tǒng)基于已被證明的2600系列 系統(tǒng)數(shù)字源表源測量單元（SMU），提供 創(chuàng)新的測量特性與系統(tǒng)靈活性，可以根據(jù)需求進行升級。其*的測量能力， 再加上強大而靈活的自動特性分析套 件(ACS)軟件，為客戶提供全面的應用 范圍和特性，這是市場上競爭產(chǎn)品所不具備的。

表1 2600B軟件工具

當您需要對封裝器件數(shù)據(jù)進行快速采集時，通過 ACS Basic版本軟件基于相當?shù)挠脩艚缑?，很容?發(fā)現(xiàn)和運行期望的測試，就像常見的 FET曲線跟 蹤測試一樣。

ACS Basic版本軟件具有靈活的軟件體系結(jié)構(gòu)，允許為 系統(tǒng)配置多種控制器與測試夾具，并可以根據(jù)應用需要， 配置所需的數(shù)字源表數(shù)量。

典型應用

各種器件的I-V功能測試和特征分析，包括：

• 分立和無源元件
  – 兩抽頭器件——傳感器、磁盤驅(qū)動器頭、金屬 氧化物可變電阻（MOV）、二極管、齊納二極 管、電容、熱敏電阻
  – 三抽頭器件——小信號雙極結(jié)型晶體管（BJT）場效應晶體管（FET），等等
• 簡單IC器件——光學器件、驅(qū)動器、開關(guān)、傳感 器、轉(zhuǎn)換器、穩(wěn)壓器
• 集成器件——小規(guī)模集成（SSI）和大規(guī)模集成（LSI） – 模擬IC
  – 射頻集成電路（RFIC）
  – 集成電路（ASIC）
  – 片上系統(tǒng)（SOC）器件
• 光電器件，例如發(fā)光二極管（LED）、激光二極管高亮度LED（HBLED）、垂直腔面發(fā)射激光器 （VCSEL）、顯示器
• 圓片級可靠性
  – NBTI、TDDB、HCI、電遷移
• 太陽能電池
• 電池
• 更多…

2604B/2614B型儀表的背板
(單通道2601B, 2611B, 2635B沒有給出)。

2636B源測量單元

在*和第三象限，2600B系列儀器用作信號源，向負載提供 電源。在第二和第四象限，2600B系列儀器用作信號宿，內(nèi)部 消耗功率。

2601B、2602B和2604B的I-V測試功能

2611B、2612B和2614B的I-V 測試功能

2636B源測量單元2634B、2635B和2636B的I-V 測試功能