美國磁通I 磁粉探傷試片

I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片。用于：將激磁次數(shù)降至zui少，以提高生產(chǎn)效率；確定磁場方向和相對的磁場強度；平衡多向磁場。
標準I試片
缺陷成基園和十字交叉條形，用于縱向和軸向磁場。
 型號：KSC-430 標準I試片，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.004英寸。

美國磁通I 磁粉探傷試片，，

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