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小型臺(tái)式化學(xué)鎳鍍層測(cè)試儀Couloscope
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
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庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。 CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu)
產(chǎn)品介紹
小型臺(tái)式化學(xué)鎳鍍層測(cè)試儀Couloscope
庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。 CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu);它的工作原理是根據(jù)陽(yáng)極溶解的庫(kù)侖法（DIN EN ISO 2177）。 簡(jiǎn)單的操作和菜單化的操作指導(dǎo)使CMS2成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢驗(yàn)理想的解決方法。 設(shè)備為不同的鍍層結(jié)構(gòu)配備了近100個(gè)預(yù)留的應(yīng)用程式（例如，鐵上鍍鋅，黃銅上鍍鎳）,以及各種電解速度（例如1, 2, 5, and 10 μm/min）。這些應(yīng)用程式適用于多鍍層系統(tǒng)。
COULOSCOPE CMS2系列的儀器通過(guò)電解鍍層來(lái)測(cè)量涂層厚度。 特別地，庫(kù)侖法可以用于準(zhǔn)確地確定任何種類的基底上的多層。 部署CSM2 STEP版本用于單層的符合標(biāo)準(zhǔn)的STEP測(cè)試測(cè)量，并檢測(cè)電勢(shì)差，例如在鎳多層的質(zhì)量控制中。
特征：
- 高精度電解電鍍技術(shù)（電量分析法）準(zhǔn)確測(cè)量多層
- 通過(guò)顯示和圖形支持的用戶指南易于操作
- 普遍適用：在金屬和非金屬基材上的測(cè)量，也適用于多層涂料
- 通過(guò)全面的配件組合適應(yīng)特定要求
應(yīng)用范圍：
- 金屬和非金屬基材上的任何種類的金屬涂層
- 單層和多層涂層厚度測(cè)量
- 特別適合通過(guò)STEP Test測(cè)量多層鎳
- 適用于0.05 µm至40 µm的涂層厚度
COULOSCOPE CMS2 STEP電解測(cè)厚儀介紹:
CMS2 STEP的特征是STEP測(cè)試功能（同時(shí)測(cè)定厚度和電位差）。 在多層鎳的量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化STEP測(cè)試 （根據(jù)ASTM B764-94和DIN 50022）。 鍍層厚度根據(jù)庫(kù)侖法得出， 而電位差則由一個(gè)鍍有AgCl的銀電極得到。
作為測(cè)量鍍層厚度簡(jiǎn)單的方法之-一，庫(kù)侖法可以用于各種鍍層組合。尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu)，當(dāng) 允許破壞性測(cè)量時(shí)，它提供了一個(gè)比X射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。
應(yīng)用:
?強(qiáng)大并且用戶友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗(yàn)。
?很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可以用CMS2簡(jiǎn)單快速地測(cè)量。這個(gè)方法為任何金屬鍍層提供了準(zhǔn)確的測(cè)量。在厚度范圍0.05.50um內(nèi)，很多,材料不需要預(yù)設(shè)定:基材組成和幾何形狀對(duì)于測(cè)量都是無(wú)關(guān)緊要的。
?常見的應(yīng)用之- -就是測(cè)量線路板上剩余的純錫，以確保可焊性。多鍍層例如Cr/ Ni/Cu在鐵或者塑料(ABS)基材上,經(jīng)常被用于高品質(zhì)的浴室用品，也可以用這個(gè)方法進(jìn)行測(cè)量
COULOSCOPE CMS2的應(yīng)用實(shí)例:電鍍緊固件，測(cè)量PCB板上的剩余純錫厚度，鍍鉻件以及浴室用品
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