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篤摯儀器（上海）有限公司
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FischerScope MMS測厚儀六種基本模塊
| 參考價(jià): | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- 產(chǎn)品型號
- Helmut Fischer/德國菲希爾 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 上海市 所在地
訪問次數(shù)：1139更新時(shí)間：2024-09-24 18:17:42
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- 上海市浦東外高橋自貿(mào)區(qū)富特東三路526號5號樓311室
- 個(gè)性化：
- www.fischerchina.cn
- 網(wǎng)址：
- www.dooz17.com/
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產(chǎn)品簡介
鍍鋅涂層以及鋼板上的涂料;鋁陽極氧化涂層（PERMASCOPE®）
納米涂層（防指紋），太陽能電池涂層（薄膜層，CdTe /玻璃），插頭觸點(diǎn)上的金涂層，焊盤上的焊料，痕量分析，光敏涂層，油和蠟層（BETASCOPE®）
測量電路板表面和通孔上的銅涂層（SIGMASCOPE®）
層壓板或多層的銅厚度，不受電路板制造中的銅涂層（SR-SCOPE®）
產(chǎn)品介紹
FischerScope MMS測厚儀六種基本模塊
六種基本的模塊：
FISCHERSCOPE MMS PEMASCOPE涂層測厚儀
FISCHERSCOPE MMS NICKELSCOPE涂層測厚儀
FISCHERSCOPE MMS SIGMASCOPE涂層測厚儀
FISCHERSCOPE MMS DUPLEX涂層測厚儀
FISCHERSCOPE MMS PC涂層測厚儀
BFISCHERSCOPE MMS BETASCOPE 涂層測厚儀
模塊化設(shè)計(jì)可以在以后升級儀器到可用更多的方法進(jìn)行測量。 FISCHERSCOPE MMS涂層測厚儀的應(yīng)用場合由于采用了多種測量方法，MMS 可用于電鍍廠，線路板生產(chǎn)廠，汽車和航空生產(chǎn)廠的多種應(yīng)用場合。
FISCHERSCOPE MMS涂層測厚儀是一臺小巧和極其多用的的臺式多功能測量系統(tǒng)，有數(shù)據(jù)存儲及數(shù)據(jù)處理能力。使用戶可以自己配置不同的測試模塊。FISCHERSCOPE MMS PC2與Windows™CE操作系統(tǒng)的模塊化測量系統(tǒng)是高精度涂層厚度測量和材料測試的理想解決方案。 通過LAN和USB連接的網(wǎng)絡(luò)功能可以快速集成到質(zhì)量管理體系和自動化制造流程中。有
應(yīng)用：
鍍鋅涂層以及鋼板上的涂料;鋁陽極氧化涂層（PERMASCOPE®）
納米涂層（防指紋），太陽能電池涂層（薄膜層，CdTe /玻璃），插頭觸點(diǎn)上的金涂層，焊盤上的焊料，痕量分析，光敏涂層，油和蠟層（BETASCOPE®）
測量電路板表面和通孔上的銅涂層（SIGMASCOPE®）
層壓板或多層的銅厚度，不受電路板制造中的銅涂層（SR-SCOPE®）的任何影響
電路板制造中銅阻焊層厚度（PERMASCOPE®）
汽車行業(yè)的活塞表面上的石墨涂層或制動盤上的防腐涂層（PERMASCOPE®）
汽車行業(yè)的活塞表面（NICKELSCOPE®）上的黑色涂料
奧氏體或雙相鋼中的鐵素體含量（PERMASCOPE®）
銅，鋁，鈦等非磁性金屬的導(dǎo)電性（SIGMASCOPE®）
ISCHERSCOPE® X-RAY 型 X 射線熒光測量系統(tǒng)整體方案：
| FISCHERSCOPE® XUL® 穩(wěn)定和低成本的X射線熒光測量儀，用于非破壞性的金屬分析和涂層厚度測量 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XULM® X射線熒光測量儀，用于對小部件進(jìn)行非破壞性的材料分析和涂鍍層厚度測量 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XAN® 120 X 射線熒光測試儀，用于快速、非破壞性的對黃金和銀合金進(jìn)行分析 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XAN® 220 用于快速無損分析黃金和銀合金的 X 射線熒光測量設(shè)備 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XAN® 250 滿足無損材料分析和涂層厚度測量zui高要求的通用型X射線熒光測量設(shè)備 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XDL® X 射線熒光測量儀，用于對功能性涂層、防腐蝕涂層和批量生產(chǎn)的零件進(jìn)行手動或自動涂層厚度測 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XDLM® X射線熒光測試儀，用于對電路板、電子元件和批量零件的涂層厚度進(jìn)行手動或自動測量，也適用于小型結(jié)構(gòu) | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XDAL® X 射線熒光測量儀帶有可編程的 X/Y臺和Z軸，用于自動測量涂鍍層厚度和材料分析 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XDV®-SDD 滿足高要求的 X 射線熒光測試儀，帶有可編程的 X/Y 工作臺和 Z 軸，用于自動測量極薄的涂層和進(jìn)行印痕分析 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XDV®-µ 帶有毛細(xì)管X 光透鏡的 X 射線熒光測量儀，用于在小零件和結(jié)構(gòu)上自動測量并分析涂層厚度及涂層成分 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XUV® 773 X 射線熒光測試儀帶有真空室，通用型設(shè)備測量具有全面的測量能力 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® X-RAY-4000 X 射線熒光測量系統(tǒng)，用于在光滑的和壓印的（包括帶有鑄模接觸面）帶鋼生產(chǎn)工藝中進(jìn)行連續(xù)的在線測量和分析 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® X-RAY-5000 X 射線熒光測量系統(tǒng)，用于在生產(chǎn)工藝中對較薄的鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe 進(jìn)行連續(xù)的在線測量和分析 | ||||||||
| 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn) 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn) FISCHERSCOPE® X-RAY 型 X 射線熒光測量系統(tǒng)的軟件 | ||||||||
| WinFTM® 軟件® 適用于所有 FISCHERSCOPE® X-RAY 型X 射線熒光測量系統(tǒng)的軟件 | ||||||||
| 備件 X-RAY 產(chǎn)品備件 | ||||||||
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