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篤摯儀器(上海)有限公司
參考價(jià): | 面議 |
- 產(chǎn)品型號(hào)
- ElektroPhysik/德國(guó)EPK 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 上海市 所在地
訪問(wèn)次數(shù):1032更新時(shí)間:2024-09-22 08:40:27
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- 王存帆
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- 個(gè)性化:
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- 網(wǎng)址:
- www.dooz17.com/
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
麥考特依據(jù)原理量程大小可分為G6,F(xiàn)6,G7,F(xiàn)7,S3,S5,S10和S20以及筆式測(cè)厚儀等各種不同規(guī)格的測(cè)厚儀,Z小的量程范圍是0-100微米,Z大范圍的是7.5-20毫米;又通過(guò)表現(xiàn)形式分為圓盤(pán)指針式的和數(shù)字顯示的(如新型的G7,F(xiàn)7等);還依據(jù)外觀的不同分為香蕉形的(俗稱)和筆式測(cè)厚儀,特別要注意的是,EPK還有二種特殊規(guī)格的麥考特測(cè)厚儀。
EPK德國(guó)直銷EPK MIKROTEST測(cè)厚儀進(jìn)口代理
德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司MIKROTEST 自動(dòng)型覆層測(cè)厚儀,測(cè)量鋼鐵上所有非磁性涂鍍層厚度(如油漆、粉末涂層、塑料、橡膠、鋅、銅、錫和鎳等)。測(cè)量快速、準(zhǔn)確、無(wú)損。三十多年來(lái)MIKROTEST G6 F6 S系列已成為自動(dòng)測(cè)定涂鍍層厚度的儀器。德國(guó)的“決竅"說(shuō)明在工藝技術(shù)及測(cè)量精度方面,具有磁性覆層測(cè)厚儀的高水準(zhǔn)。符合DIN、ISO、BS及ASTM標(biāo)準(zhǔn)。
MIKROTEST(麥考特)*自動(dòng)操作在使用時(shí)具有*的特性:
1、自動(dòng)測(cè)量,不會(huì)發(fā)生誤操作
2、易于掌握并具有*精度
3、不用校準(zhǔn)設(shè)定,檢測(cè)簡(jiǎn)便
4、不需要電池或其它電源
5、自動(dòng)顯示讀數(shù)
6、用無(wú)損測(cè)頭,一點(diǎn)測(cè)定
7、金屬鎧裝適合于室外頻繁操作使用
8、抗機(jī)械沖擊、酸及溶劑腐蝕
9、平衡裝置消除地球吸引力影響,可在任意方向和管內(nèi)測(cè)量
MIKROTEST 自動(dòng)型覆層測(cè)厚儀從表格中可選出適用型號(hào)的MIKROTEST解決您所遇到的問(wèn)題。MIKROTEST易于操作,測(cè)量時(shí)只需向前旋動(dòng)指輪到標(biāo)尺端部,將測(cè)頭定位在測(cè)量區(qū)上,松開(kāi)自鎖機(jī)構(gòu),開(kāi)始自動(dòng)測(cè)量MIKROTEST鎖定后,就能直接在標(biāo)尺上顯示出涂層厚度的正確值,單位μm或mm。按說(shuō)明書(shū)規(guī)定操作,MIKROTEST可不間斷地使用很多年,為了您進(jìn)行質(zhì)量控制。
技術(shù)指標(biāo):
型 號(hào) | 范圍 | 精度 | 測(cè)量區(qū) 直徑mm | 小曲率半徑mm | 小 厚度mm | 適用范圍 | |
凸 | 凹 | ||||||
MIKROTEST G6 | 0-100um | 1um或5% | 20 | 5 | 25 | 0.5 | 鋼、鐵上電鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層 |
MIKROTEST F6 | 0-1000um | 3um或5% | 30 | 8 | 25 | 0.5 | |
MIKROTEST S3 | 0.2-3mm | 5% | 30 | 15 | 25 | 1.0 | |
MIKROTEST S5 | 0.5-5mm | 5% | 50 | 15 | 25 | 1.0 | |
MIKROTEST S10 | 2.5-10mm | 5% | 50 | 15 | 25 | 2.0 | |
MIKROTEST S20 | 7.5-20mm | 5% | 100 | 100 | 150 | 7.0 | |
MIKROTEST Ni50 | 0-50um | 1um+5% | 15 | 15 | 25 |
| 非鐵基體上鍍鎳層 |
MIKROTEST Ni100 | 0-100um | 1um+5% | 15 | 15 | 25 | ||
MIKROTEST NiFe50 | 0-50um | 2um+5% | 20 | 20 | 25 | 0.5 | 鋼鐵上電鍍鎳層 |
MIKROTEST 6系列覆層測(cè)厚儀表盤(pán)示意圖: