EA8000日立X射線熒光分析儀規(guī)格參數(shù)：

EA8000X日立X射線熒光分析儀特點：

1. 可在幾分鐘內對250×200 mm的樣品檢測出20 µm的金屬異物

例如要檢測250×200 mm（約B5尺寸）的電池電極板中20 µm的金屬異物，以往的X射線透視檢查儀需要十小時左右的攝像時間。株式會社日立*科學通過新型X射線透視方法的開發(fā)，成功縮短了時間。檢測速度成功達到了以往的100倍以上，可在3～10分鐘內完成

2. 通過圖像處理自動檢測出異物

針對快速拍攝的250×200 mm的X射線投射圖的整面進行快速圖像處理，自動檢測出異物點。

3. 對于檢測出的異物點進行自動元素分析

日立EA8000X射線熒光分析儀只針對自動檢測出的 異物點進行X射線熒光掃描，自動分析元素。

4. 電極板中的微小金屬元素也可進行元素識別

對于樣品中檢測出來的金屬異物，自動通過X射線熒光法進行元素識別。例如，以往在檢測電極板中可能存在的20 µm左右的微小金屬異物，只能分析存在于樣品表面的異物。這是由于存在于內部時，由異物產生的熒光X射線會被基材所吸收，信號強度非常微弱。EA8000通過獨自研發(fā)的高能量X射線光學系統(tǒng)，可對電極、有機薄膜內部所含的20 µm大小的微小金屬異物進行元素分析。

5. 一體化操作，提高工作效率

與以往的技術相比，金屬異物的檢測速度、元素分析速度大幅提高，并且把顯微鏡等都組合在一臺儀器內，各個系統(tǒng)聯(lián)動可全自動輸出測量結果。因此，操作人員只需放置好樣品，即可獲得測量結果，大大提升了作業(yè)效率。