詳細(xì)介紹
JSM-IT200掃描電子顯微鏡:全自動電子光學(xué)系統(tǒng)。高分辨率丶高效率
ZEROMAG輕鬆放大到X100,000倍
全自動電子槍無縫自主柵偏壓和消像散的自動記憶功能均自動實現(xiàn)。二次電子探測器:3.0nm(30kV),15nm(1kV),背散射電子探測器4.0nm(30kv) 既保證高電壓下的高分辨率,也可提供低電壓下高質(zhì)量的圖像。
全新的zeromag 導(dǎo)航模式,可以在掃描電鏡上進行直接的光學(xué)放大,并直接過度到電子光學(xué)照片而不需要圖像切換。全自動的聚焦襯度系統(tǒng)。
LIVE ANALYSIS功能提高了元素分析效率
實時分析~SEM和EDS一體化集成~
利用Live Analysis 功能可以不必再分別考慮高倍率觀察和EDS分析。在觀察屏幕上可以隨時顯示分析區(qū)域內(nèi)的特征X射線譜圖以及自動定性的主要構(gòu)成元素。
大面積一體化EDS,可以在同一臺電腦上實現(xiàn)SEM 觀察與EDS 分析,并且可以在SEM 觀察的同時同步進行EDS 分析
JSM-IT200操做簡單丶性能
SMILE VIEW™ Lab是能集中管理與樣品臺位置聯(lián)動的CCD圖像、SEM圖像、EDS分析結(jié)果等數(shù)據(jù)并快速生成報告的數(shù)據(jù)管理器。查看以前獲得的數(shù)據(jù)、重新分析,生成報告等都能簡便地進行。
JSM-IT200掃描電子顯微鏡:全自動化操作介面,輕松上手。讓掃描電鏡成為簡單易用的常備設(shè)備,協(xié)助您快速完成各類影像及成分分析。